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1. (WO2018157839) APPAREIL, PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST DE CARTE DE CIRCUIT
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N° de publication : WO/2018/157839 N° de la demande internationale : PCT/CN2018/077779
Date de publication : 07.09.2018 Date de dépôt international : 01.03.2018
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
Déposants :
惠科股份有限公司 HKC CORPORATION LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园厂房1、2、3栋,九州阳光1号厂房5、7楼 5th and 7th Floor of Factory Building 1 Jiuzhou Yangguang, Factory Buildings 1, 2, 3 of HKC Industrial Park, Privately Operated Industrial Park, Shuitian Village, Shiyan Sub-district, Baoan District Shenzhen, Guangdong 518000, CN
重庆惠科金渝光电科技有限公司 CHONGQING HKC OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国重庆市 巴南区界石镇石景路1号 No.1 Shijing Rd., Jieshi, Banan District Chongqing 400054, CN
Inventeurs :
张光辉 ZHANG, GuangHui; CN
Mandataire :
深圳精智联合知识产权代理有限公司 SHENZHEN JINGZHI INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY CO. LTD; 中国广东省深圳 深圳市盐田区沙头角盐田国际创意港6栋2C Room 2C, Building 6 Yantian International Creative Harbour, Shatoujiao, Yantian shenzhen, Guangdong 518000, CN
Données relatives à la priorité :
201710123687.103.03.2017CN
Titre (EN) CIRCUIT BOARD TESTING APPARATUS, METHOD AND SYSTEM
(FR) APPAREIL, PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST DE CARTE DE CIRCUIT
(ZH) 一种电路板测试装置、方法及系统
Abrégé :
(EN) Disclosed are a circuit board testing apparatus, method and system, belonging to the technical field of testing. The circuit board testing apparatus comprising: a testing bench (10), a display assembly (20), a circuit unit (30), an alignment part (40) and a pressure application part (50). The circuit board testing system (00) comprising the above-mentioned circuit board testing apparatus and a pressure application unit (01), a detection unit (02) and a determination unit (03); the circuit board is used for a display apparatus, and the circuit board comprises a first electrical contact (101).
(FR) L’invention concerne un appareil, un procédé et un système de test de carte de circuit, appartenant au domaine technique des tests. L’appareil de test de carte de circuit comprend : un banc de test (10), un ensemble d’affichage (20), une unité de circuit (30), une partie d’alignement (40) et une partie d’application de pression (50). Le système de test de carte de circuit (00) comprend l’appareil de test de carte de circuit mentionné ci-dessus et une unité d’application de pression (01), une unité de détection (02) et une unité de détermination (03) ; la carte de circuit est utilisée pour un appareil d’affichage, et la carte de circuit comprend un premier contact électrique (101).
(ZH) 一种电路板测试装置、方法及系统,属于测试技术领域该电路板测试装置包括:测试台(10)、显示组件(20)、电路单元(30)、对位部(40)和施压部(50)。该电路板测试系统(00)包括上述电路板测试装置,以及施压单元(01)、检测单元(02)和判断单元(03);所述电路板用于显示装置,该电路板包括第一电性接点(101)。
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)