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1. (WO2018157635) CIRCUIT DE TEST ET PUCE
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N° de publication : WO/2018/157635 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/113214
Date de publication : 07.09.2018 Date de dépôt international : 27.11.2017
CIB :
H01L 21/66 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21
Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
66
Essai ou mesure durant la fabrication ou le traitement
Déposants :
华为技术有限公司 HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 龙岗区坂田华为总部办公楼 Huawei Administration Building Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129, CN
Inventeurs :
王新入 WANG, Xinru; CN
李佳 LI, Jia; CN
曹国豪 CAO, Guohao; CN
戈文 GE, Wen; CN
Mandataire :
北京中博世达专利商标代理有限公司 BEIJING ZBSD PATENT & TRADEMARK AGENT LTD.; 中国北京市 海淀区交大东路31号11号楼8层 8F, Building 11 No. 31 Jiaoda East Road, Haidian District Beijing 100044, CN
Données relatives à la priorité :
201710118122.401.03.2017CN
Titre (EN) TEST CIRCUIT AND CHIP
(FR) CIRCUIT DE TEST ET PUCE
(ZH) 一种测试电路及芯片
Abrégé :
(EN) A test circuit and a chip, relating to the field of integrated circuits. The test circuit can be integrated in a chip and device parameters of each unit to be tested can be tested without needing a PAD. Thus, the capability of positioning a chip process problem can be improved at a small price under the advanced process. The test circuit comprises a circuit to be tested (10), a decoder (11), a test switcher (12), an excitation unit (13), and a test unit (14). The decoder (11) is used for receiving a first signal and analyzing the first signal to obtain an addressing signal. The excitation unit (13) is used for receiving a second signal, generating an excitation signal according to the second signal, and sending the excitation signal to a first unit to be tested indicated by the addressing signal. The first unit to be tested is used for generating a test signal on the basis of the excitation signal in response to the addressing signal. The test switcher (12) is used for selecting, according to the addressing signal of the decoder (11), the first unit to be tested to output the test signal. The test unit (14) is used for sampling the test signal to obtain a test result.
(FR) L'invention concerne un circuit de test et une puce, et se rapporte au domaine des circuits intégrés. Le circuit de test peut être intégré dans une puce et des paramètres de dispositif de chaque unité à tester peuvent être testés sans nécessiter de PAD. Ainsi, la capacité de positionnement d'un problème de traitement de puce peut être améliorée à faible prix dans le processus avancé. Le circuit de test comprend un circuit à tester (10), un décodeur (11), un commutateur de test (12), une unité d'excitation (13), et une unité de test (14). Le décodeur (11) est utilisé pour recevoir un premier signal et analyser le premier signal pour obtenir un signal d'adressage. L'unité d'excitation (13) est utilisée pour recevoir un second signal, générer un signal d'excitation selon le second signal, et envoyer le signal d'excitation à une première unité à tester indiquée par le signal d'adressage. La première unité à tester est utilisée pour générer un signal de test sur la base du signal d'excitation en réponse au signal d'adressage. Le commutateur de test (12) est utilisé pour sélectionner, en fonction du signal d'adressage du décodeur (11), la première unité à tester pour émettre le signal de test. L'unité de test (14) est utilisée pour échantillonner le signal de test pour obtenir un résultat de test.
(ZH) 一种测试电路及芯片,涉及集成电路领域,能够在不需要PAD的情况下,在芯片中集成该测试电路并对每个待测单元的器件参数进行测试,从而在先进工艺下以很小代价换来芯片工艺问题定位能力的提升。该测试电路包括:待测电路(10)、解码器(11)、测试切换器(12)、激励单元(13)和测试单元(14);解码器(11)用于接收第一信号,并对第一信号进行解析,得到寻址信号;激励单元(13)用于接收第二信号,并根据第二信号,生成激励信号,向寻址信号指示的第一待测单元发送激励信号;第一待测单元用于响应于寻址信号,基于激励信号产生测试信号;测试切换器(12)用于根据解码器(11)所述寻址信号,选择第一待测单元以输出测试信号;测试单元(14)用于对测试信号进行采样,得到测试结果。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)