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1. (WO2018157438) CIRCUIT D'ESSAI DE SUBSTRAT DE RÉSEAU ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION, ET PANNEAU D'AFFICHAGE
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N° de publication : WO/2018/157438 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/079441
Date de publication : 07.09.2018 Date de dépôt international : 05.04.2017
CIB :
G02F 1/1362 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
F
DISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
1
Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source de lumière indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
01
pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
13
basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
133
Dispositions relatives à la structure; Excitation de cellules à cristaux liquides; Dispositions relatives aux circuits
136
Cellules à cristaux liquides associées structurellement avec une couche ou un substrat semi-conducteurs, p.ex. cellules faisant partie d'un circuit intégré
1362
Cellules à adressage par une matrice active
Déposants :
武汉华星光电技术有限公司 WUHAN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD [CN/CN]; 中国湖北省武汉市 东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 Building C5 Biolake of Optics Valley No. 666 Gaoxin Avenue East Lake High-tech Development Zone Wuhan, Hubei 430070, CN
Inventeurs :
王倩 WANG, Qian; CN
虞晓江 YU, Xiaojiang; CN
Mandataire :
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) CHINA WISPRO INTELLECTUAL PROPERTY LLP.; 中国广东省深圳市 南山区高新区粤兴三道8号中国地质大学产学研基地中地大楼A806 Room A806, Zhongdi Building, China University of Geosciences Base, No.8 Yuexing 3rd Road High-Tech Industrial Estate, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518057, CN
Données relatives à la priorité :
201710121073.X02.03.2017CN
Titre (EN) ARRAY SUBSTRATE TEST CIRCUIT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND DISPLAY PANEL
(FR) CIRCUIT D'ESSAI DE SUBSTRAT DE RÉSEAU ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION, ET PANNEAU D'AFFICHAGE
(ZH) 阵列基板测试电路及其制作方法、显示面板
Abrégé :
(EN) An array substrate test circuit and a manufacturing method therefor, and a display panel. The array substrate test circuit is provided on a substrate (20); the substrate (20) comprises at least two display units (10); each display unit (10) comprises a first display unit and a second display unit; the first display unit and the second display unit both comprise an array test electrode region (11) and a box test electrode region (12); box test electrodes (121) of the first display unit are electrically connected with array test electrodes (111) of the second display unit in a one-to-one correspondence mode so as to drive the output of display signals by means of the box test electrode region (12) of the first display unit.
(FR) La présente invention porte sur un circuit d'essai de substrat de réseau et son procédé de fabrication, et sur un panneau d'affichage. Le circuit d'essai de substrat de réseau est disposé sur un substrat (20). Le substrat (20) comprend au moins deux unités d'affichage (10), chaque unité d'affichage (10) comprenant des première et seconde unités d'affichage. Les première et seconde unités d'affichage comprennent toutes deux une région d'électrodes de test de réseau (11) et une région d'électrodes de test de boîtier (12). Des électrodes de test de boîtier (121) de la première unité d'affichage sont électriquement connectées à des électrodes de test de réseau (111) de la seconde unité d'affichage dans un mode de correspondance biunivoque de façon à commander la sortie de signaux d'affichage au moyen de la région d'électrode de test de boîtier (12) de la première unité d'affichage.
(ZH) 一种阵列基板测试电路及其制作方法、显示面板,阵列基板测试电路设置于基板(20)上,基板(20)包括至少两个显示单元(10),至少两个显示单元(10)包括第一及第二显示单元,第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区(11)及成盒测试电极区(12),第一显示单元的成盒测试电极(121)与第二显示单元的阵列测试电极(111)一一对应电连接,以通过第一显示单元的成盒测试电极区(12)驱动显示信号的输出。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)