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1. (WO2018146901) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE À HAUTE FRÉQUENCE

Pub. No.:    WO/2018/146901    International Application No.:    PCT/JP2017/041675
Publication Date: Fri Aug 17 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Nov 21 00:59:59 CET 2017
IPC: G01R 31/26
G01R 31/316
H03F 3/189
Applicants: NEC CORPORATION
日本電気株式会社
Inventors: MURAO Yoji
村尾 洋二
Title: PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE À HAUTE FRÉQUENCE
Abstract:
Les procédés classiques de mesure à haute fréquence présentent le problème qu'une variation de performance à haute fréquence ne peut pas être déterminée avec précision quand un signal à haute fréquence est appliqué à un amplificateur. Selon un aspect, la présente invention concerne un procédé de mesure à haute fréquence, où un signal de test (TS) qui est un signal d'onde sinusoïdale de fréquence prescrite est généré, dans lequel une période (τ) où le niveau de puissance est un premier niveau de puissance et une période (T - τ) où le niveau de puissance est un second niveau de puissance inférieur au premier sont périodiquement répétés, et appliqué à l'objet de la mesure (10) à titre de signal d'entrée, et la différence entre le signal de sortie (OUT) de l'objet de la mesure (10) et la valeur idéale du signal de sortie (OUT) est mesurée.