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1. (WO2018146683) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE CARACTÉRISATION D’UNE NANOSTRUCTURE PAR APPRENTISSAGE DE MACHINE

Pub. No.:    WO/2018/146683    International Application No.:    PCT/IL2018/050149
Publication Date: Fri Aug 17 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Feb 10 00:59:59 CET 2018
IPC: G01B 11/02
B82Y 35/00
Applicants: RAMOT AT TEL-AVIV UNIVERSITY LTD.
Inventors: WOLF, Lior
SUCHOWSKI, Haim
MREJEN, Michael
NAGLER, Achiya
MALKIEL, Itzik
ARIELI, Uri
Title: PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE CARACTÉRISATION D’UNE NANOSTRUCTURE PAR APPRENTISSAGE DE MACHINE
Abstract:
La présente invention concerne un procédé de conception d’une nanostructure qui comprend : la réception d’une réponse optique en champ lointain et de propriétés de matériau ; la transmission de la réponse optique en champ lointain artificielle et des propriétés de matériau à un réseau neuronal artificiel ayant au moins trois couches cachées ; et l’extraction à partir du réseau neuronal artificiel d’une forme d’une nanostructure correspondant à la réponse optique en champ lointain.