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1. (WO2018146352) SONDE SPECTROMÉTRIQUE POUR ÉCHANTILLONNAGE DE MATIÈRE EN VRAC ET DISPOSITIF DE SONDAGE AUTOMATIQUE POUR ÉCHANTILLONNAGE COMPRENANT LADITE SONDE
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N° de publication : WO/2018/146352 N° de la demande internationale : PCT/ES2018/070047
Date de publication : 16.08.2018 Date de dépôt international : 22.01.2018
CIB :
G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 27/22 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27
en utilisant la détection photo-électrique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
02
en recherchant l'impédance
22
en recherchant la capacité
Déposants :
TECNOCIENTIFICA, S.A. [AR/ES]; Jarama, 5 28410 Manzanares El Real-Madrid, ES
ING. JORGENSEN & ASOC. [AR/ES]; Jarama, 5 28410 MANZANARES EL REAL- MADRID, ES
Inventeurs :
CANEDA, Gustavo Daniel; AR
Mandataire :
BARBOZA, Gonzalo; ES
Données relatives à la priorité :
P 2017010033910.02.2017AR
Titre (EN) SPECTROMETRIC PROBE FOR SAMPLING BULK MATERIAL AND AUTOMATIC SAMPLE TAKER FOR SAMPLING INCLUDING THE PROBE
(FR) SONDE SPECTROMÉTRIQUE POUR ÉCHANTILLONNAGE DE MATIÈRE EN VRAC ET DISPOSITIF DE SONDAGE AUTOMATIQUE POUR ÉCHANTILLONNAGE COMPRENANT LADITE SONDE
(ES) SONDA ESPECTOMÉTRICA PARA MUESTREO DE MATERIAL A GRANEL Y CALADOR AUTOMÁTICO DE MUESTREO QUE INCORPORA LA SONDA
Abrégé :
(EN) The invention relates to a spectrometric probe for sampling bulk material and an automatic sample taker for sampling bulk material, which permits the obtaining of the compositional parameters of the material to be sampled in a direct manner, preventing the extraction and transferring of samples that need to be examined in external dependencies under the observation and analysis of competent and specialised personnel, thereby optimising operation times and reducing related costs.
(FR) L’invention concerne une sonde spectrométrique pour échantillonnage de matière en vrac et dispositif de sondage automatique pour échantillonnage de matière en vrac, laquelle sonde permet d’obtenir les paramètres de composition de la matière à échantillonner de manière directe, évitant l’extraction et le transfert d’échantillons qui doivent être examinés dans des pièces externes sous l’observation et l’analyse de personnel qualifié et spécialisé, optimisant ainsi les temps de fonctionnement et réduisant les coûts afférents.
(ES) Un sonda espectrométrica para muestreo de material a granel y calador automático para muestreo de material a granel, el cual permite obtener los parámetros de composición del material a muestrear de manera directa, evitando la extracción y traslado de muestras que deban ser examinadas en dependencias externas bajo la observación y análisis de personal capacitado y especializado, optimizando así tiempos de operación y reduciendo costos afines.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : espagnol (ES)
Langue de dépôt : espagnol (ES)