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1. (WO2018145604) PROCÉDÉ, APPAREIL ET SERVEUR DE SÉLECTION D'ÉCHANTILLONS

Pub. No.:    WO/2018/145604    International Application No.:    PCT/CN2018/075114
Publication Date: Fri Aug 17 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Feb 03 00:59:59 CET 2018
IPC: G06K 9/62
Applicants: NANJING UNIVERSITY OF AERONAUTICS AND ASTRONAUTICS
南京航空航天大学
TENCENT TECHNOLOGY (SHENZHEN) COMPANY LIMITED
腾讯科技(深圳)有限公司
Inventors: HUANG, Shengjun
黄圣君
GAO, Nengneng
高能能
YUAN, Kun
袁坤
CHEN, Wei
陈伟
WANG, Di
王迪
Title: PROCÉDÉ, APPAREIL ET SERVEUR DE SÉLECTION D'ÉCHANTILLONS
Abstract:
L'invention concerne un procédé de sélection d'échantillons, un appareil et un serveur qui se rapportent au domaine technique de l'apprentissage métrique. Ledit procédé consiste à : sélectionner n paires d'échantillons à partir d'un ensemble d'échantillons non étiquetés, chaque paire d'échantillons comprenant deux échantillons, et chaque échantillon comprenant p modes de données (101) ; pour chaque paire d'échantillons, calculer le degré partiel de similarité entre chaque mode de données d'un échantillon inclus dans la paire d'échantillons et chaque mode de données de l'autre échantillon afin d'obtenir le degré partiel de similarité p×p (102) ; calculer le degré global de similarité entre les deux échantillons inclus dans la paire d'échantillons en fonction du degré partiel de similarité p×p (103) ; obtenir le degré de différence entre le degré partiel de similarité p×p et le degré global de similarité (104) ; et sélectionner une paire d'échantillons parmi les n paires d'échantillons qui remplit une condition prédéfinie pour servir d'échantillon d'apprentissage (105). En sélectionnant un échantillon d'apprentissage de haute qualité pour former un modèle métrique, ledit procédé, ledit appareil et ledit serveur peuvent utiliser un nombre réduit d'échantillons d'apprentissage pour former des modèles métriques ayant une précision plus élevée.