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1. (WO2018144878) SONDE ÉLECTRIQUE FLEXIBLE
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N° de publication : WO/2018/144878 N° de la demande internationale : PCT/US2018/016663
Date de publication : 09.08.2018 Date de dépôt international : 02.02.2018
CIB :
G01R 1/073 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
06
Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067
Sondes de mesure
073
Sondes multiples
Déposants :
BRIGHAM YOUNG UNIVERSITY [US/US]; 3760 Harold B. Lee Library Provo, Utah 84602, US
Inventeurs :
MAZZEO, Brian A.; US
VOGEL, John; US
WHEELER, Dean; US
HARDY, Emilee; US
CLEMENT, Derek; US
Mandataire :
SODERBERG, J. Richard; US
BRAKE, R. Edward; US
BELLERMANN, Mark R.W.; US
HUGHES, William G.; US
KEY, Joseph F.; US
FORD, Timothy D.; US
BENNETT, Daniel M.; US
GROVER, Melanie; US
Données relatives à la priorité :
62/453,84602.02.2017US
Titre (EN) FLEXIBLE ELECTRIC PROBE
(FR) SONDE ÉLECTRIQUE FLEXIBLE
Abrégé :
(EN) A flexible electric probe can include: a flexible substrate; and probe line conductors on the flexible substrate, the probe line conductors being essentially parallel to each other and having separations of about 5-50 microns. The flexible electric probe can further include connection conductors on the flexible substrate, the connection conductors and the probe line conductors electrically connected to each other, the probe line conductors positioned in first and second offset patterns with regard to the connection conductors.
(FR) Une sonde électrique flexible peut comprendre : un substrat flexible ; et des conducteurs de ligne de sonde sur le substrat flexible, les conducteurs de ligne de sonde étant essentiellement parallèles les uns par rapport aux autres et ayant des séparations d'environ 5 à 50 microns. La sonde électrique flexible peut en outre comprendre des conducteurs de connexion sur le substrat flexible, les conducteurs de connexion et les conducteurs de ligne de sonde connectés électriquement les uns aux autres, les conducteurs de ligne de sonde étant positionnés dans des premier et second motifs de décalage par rapport aux conducteurs de connexion.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)