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1. (WO2018143794) PROCÉDÉS ET INSTRUMENTS DE MESURE D’ÉCHANTILLONS DANS UNE PLAQUE DE PUITS

Pub. No.:    WO/2018/143794    International Application No.:    PCT/NL2018/050021
Publication Date: Fri Aug 10 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Jan 13 00:59:59 CET 2018
IPC: G01N 21/25
G01N 21/77
G01N 21/85
G02B 6/00
Applicants: NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
Inventors: DE BOER, Bart Michiel
HARMSMA, Peter Johan
ODERWALD, Michiel Peter
VAN DEN DOOL, Teunis Cornelis
Title: PROCÉDÉS ET INSTRUMENTS DE MESURE D’ÉCHANTILLONS DANS UNE PLAQUE DE PUITS
Abstract:
L’invention concerne des procédés et des instruments de mesure d’un échantillon liquide (S1) dans une plaque de puits (50) au moyen d’une puce (10) optique. La puce (10) comprend un capteur optique (13) qui est accessible à l’échantillon liquide (S1) dans une zone d’échantillonnage (SA) de la puce. Un coupleur optique (11, 12) en espace libre est accessible pour recevoir de la lumière d’entrée (L1) et/ou émettre de la lumière de sortie (L2) par une zone de couplage (CA) de la puce (10). La zone d’échantillonnage (SA) de la puce (10) est submergée dans l’échantillon liquide (S1) tout en maintenant l’échantillon liquide (S1) éloigné de la zone de couplage (CA) pour l’interrogation du coupleur optique (11, 12) par le biais d’un chemin optique (P) qui ne traverse pas l’échantillon liquide (S1).