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PATENTSCOPE

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1. (WO2018143543) CIRCUIT DE MESURE HAUTE TENSION
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N° de publication : WO/2018/143543 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/012471
Date de publication : 09.08.2018 Date de dépôt international : 06.11.2017
CIB :
G01R 15/14 (2006.01) ,G01R 15/04 (2006.01) ,G01R 19/00 (2006.01)
Déposants : SAMSUNG SDI CO., LTD.[KR/KR]; 150-20 Gongse-ro, Giheung-gu, Yongin-si, Gyeonggi-do 17084, KR
Inventeurs : KIM, Jaesung; KR
KIM, Donghyun; KR
Mandataire : PANKOREA PATENT AND LAW FIRM; 13F, 70 Nonhyeon-ro 85-gil, Gangnam-gu, Seoul 06234, KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-001463101.02.2017KR
Titre (EN) HIGH-VOLTAGE MEASUREMENT CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE MESURE HAUTE TENSION
(KO) 고전압 측정회로
Abrégé : front page image
(EN) A high-voltage measurement circuit comprises: a relay unit for measuring the voltage between a first high-voltage terminal and a second high-voltage terminal and transmitting the same; a voltage distributing unit for converting, into sensing voltage, the voltage transmitted from the relay unit; and a maintaining circuit for generating, as sensing voltage, a peak voltage of detection voltage by sampling and holding the detection voltage in each sampling cycle.
(FR) L'invention concerne un circuit de mesure haute tension comprenant : une unité de relais permettant de mesurer la tension entre une première borne haute tension et une seconde borne haute tension et de la transmettre ; une unité de distribution de tension permettant de convertir, en tension de détection, la tension transmise par l'unité de relais ; et un circuit de maintien permettant de générer, en tant que tension de détection, une tension de crête de tension de détection par l'échantillonnage et la conservation de la tension de détection dans chaque cycle d'échantillonnage.
(KO) 고전압 측정회로는, 제1 고전압단 및 제2 고전압단 사이의 전압을 측정하여 전달하는 릴레이부, 상기 릴레이부로부터 전달되는 전압을 감지 전압으로 변환하는 전압 분배부, 및 상기 검출전압을 샘플링 주기마다 샘플링 및 홀딩하여 상기 검출 전압의 피크전압을 감지 전압으로 생성하는 유지 회로를 포함한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)