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1. (WO2018143153) DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION ET PROCÉDÉ DE MESURE DE POSITION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/143153 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/002854
Date de publication : 09.08.2018 Date de dépôt international : 30.01.2018
CIB :
G01B 11/00 (2006.01) ,G06T 7/70 (2017.01)
Déposants : SUMITOMO MITSUI CONSTRUCTION CO., LTD.[JP/JP]; 2-1-6 Tsukuda, Chuo-ku, Tokyo 1040051, JP
KYUSHU UNIVERSITY, NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION[JP/JP]; 6-10-1, Hakozaki, Higashi-ku, Fukuoka-shi, Fukuoka 8128581, JP
Inventeurs : TOKURA Kentaro; JP
NAGAMOTO Naoki; JP
KAKEHASHI Takao; JP
IKEHARA Motohiro; JP
UCHIYAMA Hideaki; JP
Mandataire : AIDA Shinji; JP
JUNG WonKee; JP
AIDA Kyoko; JP
Données relatives à la priorité :
2017-01821303.02.2017JP
Titre (EN) POSITION MEASUREMENT DEVICE AND POSITION MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION ET PROCÉDÉ DE MESURE DE POSITION
(JA) 位置測定装置及び位置測定方法
Abrégé : front page image
(EN) [Problem] To enable three-dimensional measurement with good precision. [Solution] When three-dimensional measurement is to be performed with good precision using SLAM or the like, images of marks M1, M2, M3, M4 must be captured from various directions by a single-lens camera. In the present invention, directions of imaging by a camera are displayed as sectors C1, C2, C3, C4. For example, it is understood that whereas sectors C1 and C4 have a large central angle and imaging therein is performed from a wide range of directions, sectors C2 and C3 have a small central angle and imaging therein is performed from a narrow range of directions. A photographer seeing such a display can perform additional imaging, and images can therefore be obtained from a wide range of directions, and three-dimensional measurement can be performed with good precision.
(FR) La présente invention concerne la mesure tridimensionnelle avec une bonne précision. Lorsqu'une mesure tridimensionnelle doit être effectuée avec une bonne précision par SLAM (Cartographie et localisation simultanées) ou une technique analogue, des images de marques M1, M2, M3, M4 doivent être capturées dans diverses directions par une caméra à lentille unique. Dans la présente invention, les directions d'imagerie par une caméra sont affichées en tant que secteurs C1, C2, C3, C4. Par exemple, alors que les secteurs C1 et C4 ont un grand angle central et que l'imagerie y est effectuée sur une large plage de directions, les secteurs C2 et C3 ont un petit angle central et l'imagerie y est effectuée sur une plage étroite de directions. Un photographe observant cette présentation peut effectuer une imagerie supplémentaire, et des images peuvent donc être obtenues à partir d'une large plage de directions, et une mesure tridimensionnelle peut être effectuée avec une bonne précision.
(JA) 【課題】精度の良い3次元計測が行えるようにする。 【解決手段】SLAM等を使って3次元計測を精度良く行う場合には、単眼カメラで各マーカM1,M2,M3,M4を様々な方向から撮影する必要がある。本発明では、カメラで撮影した方向を扇形C1,C2,C3,C4で表示するようにしている。例えば、扇形C1,C4は中心角が大きくて広い方向から撮影されているのに対し、扇形C2,C3は中心角が小さくて狭い方向から撮影されていることが分かる。撮影者はそのような表示を見て撮影を追加することができるので、広い方向からの画像を得ることができ、精度の良い3次元計測を行うことができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)