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1. (WO2018143093) DISPOSITIF DE MESURE
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N° de publication : WO/2018/143093 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/002513
Date de publication : 09.08.2018 Date de dépôt international : 26.01.2018
CIB :
G01S 7/481 (2006.01) ,G01C 3/06 (2006.01) ,G02B 26/10 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
S
DÉTERMINATION DE LA DIRECTION PAR RADIO; RADIO-NAVIGATION; DÉTERMINATION DE LA DISTANCE OU DE LA VITESSE EN UTILISANT DES ONDES RADIO; LOCALISATION OU DÉTECTION DE LA PRÉSENCE EN UTILISANT LA RÉFLEXION OU LA RERADIATION D'ONDES RADIO; DISPOSITIONS ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES
7
Détails des systèmes correspondant aux groupes G01S13/, G01S15/, G01S17/135
48
de systèmes selon le groupe G01S17/56
481
Caractéristiques de structure, p.ex. agencements d'éléments optiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
3
Mesure des distances dans la ligne de visée; Télémètres optiques
02
Détails
06
Utilisation de moyens électriques pour obtenir une indication finale
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
26
Dispositifs ou systèmes optiques utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander l'intensité, la couleur, la phase, la polarisation ou la direction de la lumière, p.ex. commutation, ouverture de porte, modulation
08
pour commander la direction de la lumière
10
Systèmes de balayage
Déposants :
パイオニア株式会社 PIONEER CORPORATION [JP/JP]; 東京都文京区本駒込二丁目28番8号 28-8, Honkomagome 2-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1130021, JP
Inventeurs :
棚橋 祥夫 TANAHASHI, Yasuo; JP
Mandataire :
中村 聡延 NAKAMURA, Toshinobu; JP
Données relatives à la priorité :
2017-01504931.01.2017JP
Titre (EN) MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE
(JA) 計測装置
Abrégé :
(EN) A measurement device 100 is provided with a MEMS mirror 4 for radiating projection light L1 while changing the irradiation direction thereof, a convex mirror 6A for reflecting the projection light L1 radiated in a first period within a first cycle, and a concave mirror 6B for reflecting the projection light L1 radiated in a second period within the first cycle. At this time, the projection light L1 reflected by the convex mirror 6A and return light L2 reflected by the concave mirror 6B are each radiated at different heights in a predetermined direction (Z-axis direction).
(FR) Dispositif de mesure (100) pourvu d'un miroir MEMS (4) pour rayonner une lumière de projection L1 tout en changeant la direction d'irradiation de celle-ci, un miroir convexe (6A) pour réfléchir la lumière de projection L1 rayonnée dans une première période d'un premier cycle, et un miroir concave (6B) pour réfléchir la lumière de projection L1 rayonnée dans une seconde période du premier cycle. À ce moment, la lumière de projection L1 réfléchie par le miroir convexe (6A) et la lumière de retour L2 réfléchie par le miroir concave (6B) sont chacune rayonnées à différentes hauteurs dans une direction prédéterminée (direction d'axe Z).
(JA) 計測装置100は、照射方向を変えながら投射光L1を照射するMEMSミラー4と、1周期内における第1期間に照射された投射光L1を反射する凸面ミラー6Aと、1周期内における第2期間に照射された投射光L1を反射する凹面ミラー6Bとを備える。このとき、凸面ミラー6Aにより反射された投射光L1と、凹面ミラー6Bにより反射された戻り光L2とは、所定方向(Z軸方向)において異なる高さに夫々照射される。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)