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1. (WO2018142613) DISPOSITIF DE DÉTECTION
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N° de publication : WO/2018/142613 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/004225
Date de publication : 09.08.2018 Date de dépôt international : 06.02.2017
CIB :
G01B 11/02 (2006.01) ,D01H 13/32 (2006.01) ,G01B 21/02 (2006.01) ,G01N 21/892 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
D TEXTILES; PAPIER
01
FIBRES OU FILS NATURELS OU ARTIFICIELS; FILATURE
H
FILATURE OU RETORDAGE
13
Autres caractéristiques structurelles communes, parties constitutives, ou accessoires
32
Dispositifs de comptage, de mesure, d'enregistrement
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
89
dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles
892
caractérisée par la crique, le défaut ou la caractéristique de l'objet examiné
Déposants :
三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310, JP
Inventeurs :
堀 淳二 HORI, Junji; JP
阪田 恒次 SAKATA, Koji; JP
橋口 拓弥 HASHIGUCHI, Takuya; JP
望月 敬太 MOCHIZUKI, Keita; JP
渡邊 清高 WATANABE, Kiyotaka; JP
笹井 浩之 SASAI, Hiroshi; JP
Mandataire :
高田 守 TAKADA, Mamoru; JP
高橋 英樹 TAKAHASHI, Hideki; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DETECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION
(JA) 検出装置
Abrégé :
(EN) A position detection unit (12) calculates, as a first phase, the deflection angle of a first similarity vector having as elements a first similarity and a second similarity calculated by a similarity calculation unit (11). The position calculation unit (12) calculates, as a second phase, the deflection angle of a second similarity vector having as elements a third similarity and a fourth similarity calculated by the similarity calculation unit (11). A period calculation unit (13) calculates the period of a pattern formed on a long body on the basis of the first phase and second phase calculated by the phase calculation unit (12). An abnormality detection unit (14) detects an abnormality in the long body on the basis of the period calculated by the period calculation unit (13).
(FR) Selon l’invention, une unité de détection de position (12) calcule, en tant que première phase, l’angle de déflexion d’un premier vecteur de similitude dont les éléments sont une première similitude et une deuxième similitude calculées par une unité de calcul de similitude (11). L’unité de détection de position (12) calcule, en tant que deuxième phase, l’angle de déflexion d’un deuxième vecteur de similitude dont les éléments sont une troisième similitude et une quatrième similitude calculées par une unité de calcul de similitude (11). Une unité de calcul de période (13) calcule la période d’un motif formé sur un corps long sur la base de la première phase et de la deuxième phase calculées par l’unité de calcul de phase (12). Une unité de détection d’anomalie (14) détecte une anomalie dans le corps long sur la base de la période calculée par l’unité de calcul de période (13).
(JA) 位相算出部(12)は、類似度算出部(11)によって算出された第1類似度及び第2類似度を要素とする第1類似度ベクトルの偏角を第1位相として算出する。位相算出部(12)は、類似度算出部(11)によって算出された第3類似度及び第4類似度を要素とする第2類似度ベクトルの偏角を第2位相として算出する。周期算出部(13)は、位相算出部(12)によって算出された第1位相及び第2位相に基づいて、長尺体に形成された模様の周期を算出する。異常検出部(14)は、周期算出部(13)によって算出された周期に基づいて、長尺体の異常を検出する。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)