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1. (WO2018142094) TEST DE CIRCUITS INTÉGRÉS

Pub. No.:    WO/2018/142094    International Application No.:    PCT/GB2017/053806
Publication Date: Fri Aug 10 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Dec 20 00:59:59 CET 2017
IPC: G01R 31/28
G01R 31/317
Applicants: ARM LIMITED
Inventors: MYERS, James Edward
BIGGS, John Philip
KUFEL, Jedrzej
Title: TEST DE CIRCUITS INTÉGRÉS
Abstract:
L'invention concerne des circuits intégrés (12) fabriqués par impression d'un réseau d'éléments de circuit CE contenant chacun un circuit intégré et une circuiterie de test associé (14). Une pluralité de circuits intégrés à l'intérieur du réseau sont testés en parallèle afin de générer une pluralité correspondante de signaux de résultat de test individuels. Lesdits signaux de résultat de test individuels sont combinés afin de former un signal de résultat de test combiné indiquant si l'un quelconque de la pluralité de circuits intégrés testés en parallèle fonctionne de manière incorrecte pendant leur test. Si le signal de résultat de test combiné indique n'importe quels circuits intégrés défaillants, alors la totalité de la pluralité de circuits intégrés (par exemple une rangée ou colonne entière) peut être rejetée. Le réseau de circuits intégrés testé est ensuite séparé en circuits intégrés discrets et est également séparé de son circuit de test. Des contacts (16, 18, 20) fournissant des signaux de puissance, des signaux d'horloge et la lecture des signaux de résultat de test combinés sont situés à la périphérie d'une feuille de substrat sur laquelle est imprimé le réseau d'éléments de circuit.