WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Options
Langue d'interrogation
Stemming/Racinisation
Trier par:
Nombre de réponses par page
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018141333) DISPOSITIF POUR L'AUGMENTATION DE LA RÉSOLUTION D'UN MICROSCOPE À BALAYAGE LASER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/141333 N° de la demande internationale : PCT/DE2018/100060
Date de publication : 09.08.2018 Date de dépôt international : 25.01.2018
CIB :
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 27/10 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27
Autres systèmes optiques; Autres appareils optiques
10
Systèmes divisant ou combinant des faisceaux
Déposants : CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH[DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Inventeurs : WICKER, Kai; DE
NETZ, Ralf; DE
Mandataire : FREITAG, Joachim; DE
OEHMKE, Volker; DE
SCHALLER, Renate; DE
Données relatives à la priorité :
10 2017 101 829.831.01.2017DE
Titre (EN) ASSEMBLY FOR INCREASING THE RESOLUTION OF A LASER SCANNING MICROSCOPE
(FR) DISPOSITIF POUR L'AUGMENTATION DE LA RÉSOLUTION D'UN MICROSCOPE À BALAYAGE LASER
(DE) ANORDNUNG ZUR AUFLÖSUNGSSTEIGERUNG EINES LASER-SCANNING-MIKROSKOPS
Abrégé :
(EN) The invention relates to an assembly for increasing the resolution of a laser scanning microscope (LSM). The aim of the invention is to increase the resolution in an LSM using image inversion interferometry (III), having a simplified adjustment and a reduced susceptibility to failure. According to the invention, this is achieved in that the pupil bundle coming from the laser scanning microscope is coupled into a shortened common-path interferometer (2) in order to interfere wavefronts of a pupil image mirrored at at least one axis and of an unchanged pupil image. The area of a pupil (1) from the pupil bundle is interfered along an axis (11) which is lateral to the optical axis (12) into two complementary sub-regions P and Q, thereby forming two sub-bundles which are supplied to at least one bundle deflector by a total reflection process separately in a mirror-symmetrical manner along the common-path interferometer (2) in the form of two interferometer arms that are aligned in an opposing manner along the optical axis (12), and the light of the interferometer arms are interfered at a partially translucent beam splitter layer (34) from transmitted light of one interferometer arm and from reflected light of the other interferometer arm and vice versa such that a constructive interference (C) and a destructive interference (D) of the wavefronts can be produced from the two different sub-regions P and Q of the pupils (1).
(FR) L'invention concerne un dispositif pour l'augmentation de la résolution d'un microscope à balayage laser (LSM). Le but de trouver l’augmentation de résolution pour un LSM au moyen d’interférométrie d’inversion d’image (III), qui présente un réglage simplifié et une sensibilité aux perturbations réduite, est résolu selon la présente invention, en injectant le faisceau de pupille venant du microscope à balayage laser dans un interféromètre à trajet commun (2) raccourci, pour interférer les fronts d’onde d’une image de pupille reflétée selon au moins un axe et d’une image de pupille non modifiée, la surface d’une pupille (1) du faisceau de pupille étant amenée le long d’un axe latéral (11) à l’axe optique (12) dans deux zones partielles complémentaires P et Q en générant deux sous-faisceaux se déplaçant le long de l’interféromètre à trajet commun (2) en tant que deux bras d’interféromètre opposés orientés le long de l’axe optique (12) séparés de manière symétrique d’au moins une déviation de faisceau par réflexion totale, et la lumière des bras d’interféromètre étant interférée au niveau d‘une couche séparatrice de faisceau (34) partiellement perméable à partir de la lumière transmise d’un des bras d’interféromètre et de la lumière réfléchie de l’autre bras d’interféromètre et à l’inverse, de sorte qu’une interférence constructive (C) et une interférence destructive (D) des fronts d’onde des deux zones partielles différentes P et Q de la pupille puissent être générées.
(DE) Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Auflösungssteigerung eines Laser-Scanning-Mikroskops (LSM). Die Aufgabe, der Auflösungssteigerung bei LSM durch Bildinversionsinterferometrie (III) zu finden, die eine vereinfachte Justage und geringere Störanfälligkeit aufweist, wird erfindungsgemäß gelöst, indem - um Wellenfronten eines an wenigstens einer Achse gespiegelten Pupillenbildes und eines unveränderten Pupillenbildes zu interferieren - das vom Laser-Scanning-Mikroskop kommenden Pupillenbündels in ein verkürztes Common-Path-Interferometer (2) eingekoppelt wird, wobei die Fläche einer Pupille (1) aus dem Pupillenbündel entlang einer zur optischen Achse (12) lateralen Achse (11) in zwei komplementäre Teilbereiche P und Q unter Erzeugung zweier Teilbündel, die entlang des Common-Path-Interferometers (2) als zwei gegenüberliegend entlang der optischen Achse (12) ausgerichtete Interferometerarme spiegelsymmetrisch separat wenigstens einer Bündelumlenkung durch Totalreflexion zugeführt werden, und das Licht der Interferometerarme an einer teildurchlässigen Strahlteilerschicht (34) interferiert wird aus transmittiertem Licht des einen Interferometerarms und reflektiertem Licht des anderen Interferometerarms und umgekehrt, sodass eine konstruktive Interferenz (C) und eine destruktive Interferenz (D) der Wellenfronten aus den beiden unterschiedlichen Teilbereichen P und Q der Pupille (1) erzeugbar sind.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)