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1. (WO2018140133) TEST DE MÉMOIRE INTÉGRÉ AVEC EMPRUNT DE STOCKAGE
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N° de publication : WO/2018/140133 N° de la demande internationale : PCT/US2017/064381
Date de publication : 02.08.2018 Date de dépôt international : 03.12.2017
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 06.09.2018
CIB :
G11C 29/02 (2006.01) ,G11C 29/04 (2006.01) ,G11C 29/12 (2006.01) ,G11C 29/38 (2006.01) ,G11C 29/44 (2006.01) ,G11C 29/32 (2006.01)
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
29
Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
02
Détection ou localisation de circuits auxiliaires défectueux, p.ex. compteurs de rafraîchissement défectueux
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
29
Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04
Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
29
Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04
Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
08
Test fonctionnel, p.ex. test lors d'un rafraîchissement, auto-test à la mise sous tension (POST) ou test réparti
12
Dispositions intégrées pour les tests, p.ex. auto-test intégré (BIST)
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
29
Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04
Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
08
Test fonctionnel, p.ex. test lors d'un rafraîchissement, auto-test à la mise sous tension (POST) ou test réparti
12
Dispositions intégrées pour les tests, p.ex. auto-test intégré (BIST)
38
Dispositifs de vérification de réponse
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
29
Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04
Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
08
Test fonctionnel, p.ex. test lors d'un rafraîchissement, auto-test à la mise sous tension (POST) ou test réparti
12
Dispositions intégrées pour les tests, p.ex. auto-test intégré (BIST)
44
Indication ou identification d'erreurs, p.ex. pour la réparation
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
29
Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
04
Détection ou localisation d'éléments d'emmagasinage défectueux
08
Test fonctionnel, p.ex. test lors d'un rafraîchissement, auto-test à la mise sous tension (POST) ou test réparti
12
Dispositions intégrées pour les tests, p.ex. auto-test intégré (BIST)
18
Dispositifs pour la génération d'adresses; Dispositifs pour l'accès aux mémoires, p.ex. détails de circuits d'adressage
30
Accès à des réseaux uniques
32
Accès séquentiel; Test par balayage
Déposants :
QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; 5775 Morehouse Drive Qualcomm Incorporated Attn: International IP Administration San Diego, California 92121-1714, US
Inventeurs :
CHAKRABORTY, Tapan; US
AVERBUJ, Roberto; US
Mandataire :
SAUNDERS, Keith; US
Données relatives à la priorité :
15/418,54327.01.2017US
Titre (EN) EMBEDDED MEMORY TESTING WITH STORAGE BORROWING
(FR) TEST DE MÉMOIRE INTÉGRÉ AVEC EMPRUNT DE STOCKAGE
Abrégé :
(EN) An integrated circuit (IC) is disclosed herein for embedded memory testing with storage borrowing. In an example aspect, an integrated circuit includes a functional logic block, a memory block, and test logic. The functional logic block includes multiple storage units and is configured to store functional data in the multiple storage units during a regular operational mode. The test logic is configured to perform a test on the memory block during a testing mode. The test logic is also configured to retain memory test result data in the multiple storage units of the functional logic block during the testing mode.
(FR) L'invention concerne un circuit intégré (IC) destiné à un test de mémoire intégré avec emprunt de stockage. Selon un aspect donné à titre d'exemple, un circuit intégré comprend un bloc logique fonctionnel, un bloc mémoire et une logique de test. Le bloc logique fonctionnel comprend de multiples unités de stockage et est configuré pour stocker des données fonctionnelles dans les multiples unités de stockage pendant un mode de fonctionnement normal. La logique de test est configurée pour effectuer un test sur le bloc de mémoire pendant un mode de test. La logique de test est également configurée pour conserver des données de résultat de test de mémoire dans les multiples unités de stockage du bloc logique fonctionnel pendant le mode de test.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)