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1. (WO2018138718) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURES À HAUTE RÉSOLUTION EN ÉNERGIE DE RAYONS X
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N° de publication : WO/2018/138718 N° de la demande internationale : PCT/IL2018/050061
Date de publication : 02.08.2018 Date de dépôt international : 17.01.2018
CIB :
G01N 23/22 (2018.01) ,G02F 1/37 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
22
en mesurant l'émission secondaire
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
F
DISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
1
Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source de lumière indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
35
Optique non linéaire
37
pour la génération de l'harmonique deux
Déposants :
BAR ILAN UNIVERSTIY [IL/IL]; 5290002 Ramat Gan, IL
Inventeurs :
SHWARTZ, Sharon; IL
LEVY, Shiran; IL
BORODIN, Denis; IL
Mandataire :
FRANCIS, Najib; IL
Données relatives à la priorité :
62/449,64624.01.2017US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR HIGH ENERGY-RESOLUTION MEASUREMENTS OF X-RAY
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURES À HAUTE RÉSOLUTION EN ÉNERGIE DE RAYONS X
Abrégé :
(EN) System and method for use in determining material properties of a sample of material are presented. The system comprises an X-ray source configured and operable to generate a first X-ray radiation comprising source photons and direct them into an interaction region, such that when the sample is located in the interaction region the source photons affect parametric down conversion (PDC) effect of X-ray into ultraviolet (UV) in the sample; and a detector configured and operable to detect a second X-ray radiation comprising signal photons emerged from the sample in response to interaction between the source photons and the sample and generate data indicative thereof; wherein the source photons are of relatively low-power and said X-ray source and detector are positioned with respect to each other and with respect to the interaction region to meet a phase matching condition of the PDC effect, thereby enabling high energy-resolution measurements while operating with relatively low-power source photons.
(FR) L'invention concerne un système et un procédé permettant de déterminer des propriétés matérielles d'un échantillon de matériau. Le système comprend une source de rayons X conçue pour et permettant de générer un premier rayonnement de rayons X comprenant des photons sources et de les diriger dans une zone d'interaction, de telle sorte que, lorsque l'échantillon est situé dans la zone d'interaction, les photons sources affectent l'effet de conversion descendante paramétrique (PDC) de rayons X en ultraviolet (UV) dans l'échantillon; et un détecteur conçu pour et permettant de détecter un second rayonnement de rayons X comprenant des photons de signal tirés de l'échantillon en réponse à une interaction entre les photons de source et l'échantillon et générer des données indicatives correspondantes; les photons sources étant de puissance relativement faible et ladite source de rayons X et ledit détecteur étant positionnés l'un par rapport à l'autre et par rapport à la zone d'interaction afin de satisfaire une condition de correspondance de phase de l'effet PDC, ce qui permet des mesures à haute résolution d'énergie dans le cadre d'un fonctionnement avec des photons de source de puissance relativement faible.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)