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1. (WO2018138105) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE RUPTURE D'UN SUBSTRAT D'UN ÉLÉMENT OPTIQUE COMMUTABLE ET DISPOSITIF OPTIQUE COMMUTABLE

Pub. No.:    WO/2018/138105    International Application No.:    PCT/EP2018/051636
Publication Date: Fri Aug 03 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Thu Jan 25 00:59:59 CET 2018
IPC: G02F 1/13
Applicants: MERCK PATENT GMBH
Inventors: DE JONG, Ties
BAKKER, Paul
Title: PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE RUPTURE D'UN SUBSTRAT D'UN ÉLÉMENT OPTIQUE COMMUTABLE ET DISPOSITIF OPTIQUE COMMUTABLE
Abstract:
L'invention concerne également un procédé de détection de rupture d'un substrat (A, B) d'au moins un élément optique commutable (10). L'ou les éléments optiques commutables (10) comprennent un premier substrat (A) et un second substrat (B), le premier substrat (A) étant revêtu d'une première électrode et du second substrat (B) étant revêtue d'une seconde électrode, et une couche commutable (14), la couche commutable (14) étant prise en sandwich entre le premier substrat (A) et le second substrat (B). Le procédé comprend i) la mesure d'un changement dans un signal différentiel mesuré au niveau de deux contacts d'un substrat (A, B), ou ii) la mesure d'un changement de capacité entre les deux substrats (A, B), ou iii) mesurer un changement de résistance d'au moins un des substrats (A, B), ou iv) mesurer un changement de courant appliqué à l'élément optique commutable (10). L'invention concerne également un dispositif optique commutable avec un élément optique commutable (10) construit pour mettre en oeuvre le procédé.