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N° de publication : WO/2018/129439 N° de la demande internationale : PCT/US2018/012763
Date de publication : 12.07.2018 Date de dépôt international : 08.01.2018
CIB :
G01R 1/04 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
04
Boîtiers; Organes de support; Agencements des bornes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
Déposants : DELTA DESIGN, INC.[US/US]; 12367 Crosthwaite Circle Poway, CA 92064, US
Inventeurs : TUSTANIWSKYJ, Jerry, Ihor; US
Mandataire : BECK, George; US
AGARWAL, Pavan, K.; US
BERKOWITZ, Benjamin; US
BRINCKERHOFF, Courtenay; US
FELDHAUS, John, J.; US
KAMINSKI, Michael, D.; US
LAW, Glenn; US
MAEBIUS, Stephen; US
QUILLIN, George E.; US
RAWLINS, Andrew E.; US
SCHORR, Kristel; US
SIMKIN, Michele; US
Données relatives à la priorité :
15/416,51026.01.2017US
62/444,09209.01.2017US
Titre (EN) SOCKET SIDE THERMAL SYSTEM
(FR) SYSTÈME THERMIQUE CÔTÉ PRISE
Abrégé :
(EN) An integrated circuit device testing system includes a socket configured to receive an integrated circuit device, wherein the socket comprises at least one conductive trace made of a material with a resistivity that is a function of temperature, and wherein the socket is configured such that, when the integrated circuit device is located in the socket, the at least one conductive trace extends along a surface of the integrated circuit device. The integrated circuit device further includes a controller or active circuit configured to determine a temperature at the surface of the integrated circuit device based on a measured resistance of the at least one conductive trace.
(FR) L'invention concerne un système de test de dispositif à circuit intégré comprenant une prise conçue pour recevoir un dispositif à circuit intégré, la prise comprenant au moins un ruban conducteur constitué d'un matériau ayant une résistivité fonction d'une température, et la prise étant conçue de sorte que, lorsque le dispositif à circuit intégré se trouve dans la prise, ledit ruban conducteur s'étend le long d'une surface du dispositif à circuit intégré. Le dispositif à circuit intégré comprend en outre un dispositif de commande, ou circuit actif, configuré pour déterminer une température à la surface du dispositif à circuit intégré sur la base d'une résistance mesurée dudit ruban conducteur.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)