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1. (WO2018127543) PROCÉDÉ D'OPTIMISATION COUCHE PAR COUCHE D'UN FILM MINCE
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N° de publication : WO/2018/127543 N° de la demande internationale : PCT/EP2018/050221
Date de publication : 12.07.2018 Date de dépôt international : 04.01.2018
CIB :
C23C 14/54 (2006.01) ,G02B 1/115 (2015.01) ,G02C 7/02 (2006.01)
C CHIMIE; MÉTALLURGIE
23
REVÊTEMENT DE MATÉRIAUX MÉTALLIQUES; REVÊTEMENT DE MATÉRIAUX AVEC DES MATÉRIAUX MÉTALLIQUES; TRAITEMENT CHIMIQUE DE SURFACE; TRAITEMENT DE DIFFUSION DE MATÉRIAUX MÉTALLIQUES; REVÊTEMENT PAR ÉVAPORATION SOUS VIDE, PAR PULVÉRISATION CATHODIQUE, PAR IMPLANTATION D'IONS OU PAR DÉPÔT CHIMIQUE EN PHASE VAPEUR, EN GÉNÉRAL; MOYENS POUR EMPÊCHER LA CORROSION DES MATÉRIAUX MÉTALLIQUES, L'ENTARTRAGE OU LES INCRUSTATIONS, EN GÉNÉRAL
C
REVÊTEMENT DE MATÉRIAUX MÉTALLIQUES; REVÊTEMENT DE MATÉRIAUX AVEC DES MATÉRIAUX MÉTALLIQUES; TRAITEMENT DE SURFACE DE MATÉRIAUX MÉTALLIQUES PAR DIFFUSION DANS LA SURFACE, PAR CONVERSION CHIMIQUE OU SUBSTITUTION; REVÊTEMENT PAR ÉVAPORATION SOUS VIDE, PAR PULVÉRISATION CATHODIQUE, PAR IMPLANTATION D'IONS OU PAR DÉPÔT CHIMIQUE EN PHASE VAPEUR, EN GÉNÉRAL
14
Revêtement par évaporation sous vide, pulvérisation cathodique ou implantation d'ions du matériau composant le revêtement
22
caractérisé par le procédé de revêtement
54
Commande ou régulation du processus de revêtement
[IPC code unknown for G02B 1/115]
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
C
LUNETTES; LUNETTES DE SOLEIL OU LUNETTES PROTECTRICES DANS LA MESURE OÙ LEURS CARACTÉRISTIQUES SONT LES MÊMES QUE CELLES DES LUNETTES; LENTILLES DE CONTACT
7
Pièces optiques
02
Verres; Systèmes de verres
Déposants :
Essilor International [FR/FR]; 147 Rue de Paris 94220 Charenton-Le-Pont, FR
Inventeurs :
THORNHILL, David; US
Mandataire :
CHAUVIN, Vincent; FR
ORSINI, Fabienne; FR
BLAYO, Nadine; FR
BONNANS, Arnaud; FR
CATHERINE, Alain; FR
CANUEL, Clélia; FR
DE CACQUERAY-VALMENIER, Stanislas; FR
LE BIHAN, Jean-Michel; FR
LIENARD, Céline; FR
LE CACHEUX, Samuel; FR
DEVIC, David; FR
Données relatives à la priorité :
17305013.905.01.2017EP
Titre (EN) METHOD FOR LAYER BY LAYER OPTIMIZATION OF A THIN FILM
(FR) PROCÉDÉ D'OPTIMISATION COUCHE PAR COUCHE D'UN FILM MINCE
Abrégé :
(EN) Provided herein is a method of coating a substrate is provided. The method includes providing at least one test substrate, b) a programmed physical thickness (T) for at least one layer of the multi-layered coating, and c) a design file comprising a target physical thickness and target spectral performance for the at least one layer of the multi-layered coating; depositing the at least one layer onto the test substrate to form an applied layer having an optical thickness; measuring a spectral performance of the applied layer; and comparing the programmed physical thickness (T) to the optical thickness of the applied layer, thereby generating a data set (ΔΤ). A system and an optical article produced by the method described herein are also disclosed.
(FR) La présente invention concerne un procédé de revêtement d'un substrat. Le procédé comprend la fourniture d'au moins un substrat d'essai, b) une épaisseur physique programmée (T) pour au moins une couche du revêtement multicouche, et c) un fichier de conception comprenant une épaisseur physique cible et des performances spectrales cibles pour l'au moins une couche du revêtement multicouche; le dépôt de l'au moins une couche sur le substrat d'essai pour former une couche appliquée ayant une épaisseur optique; la mesure d'une performance spectrale de la couche appliquée; et la comparaison de l'épaisseur physique programmée (T) à l'épaisseur optique de la couche appliquée, de façon à générer un ensemble de données (ΔΤ). L'invention concerne en outre un système et un article optique produit par le procédé de l'invention.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)