Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales

1. (WO2018125173) DÉTERMINATION D'INTÉGRITÉ D'ISOLATION SUR UNE PUCE

Pub. No.:    WO/2018/125173    International Application No.:    PCT/US2016/069350
Publication Date: Fri Jul 06 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Dec 30 00:59:59 CET 2016
IPC: G01R 31/28
Applicants: INTEL CORPORATION
Inventors: KUMAR, Suriya Kumar Ashok
KASIM, Rahim
AUGUSTINE, Charles
LAKAMRAJU, Narendra V.
GILL, Balkaran Singh
Title: DÉTERMINATION D'INTÉGRITÉ D'ISOLATION SUR UNE PUCE
Abstract:
L'invention concerne des appareils, des systèmes et des procédés permettant de tester une isolation diélectrique. Un boîtier de semi-conducteur peut comprendre un dispositif à l'essai (DUT). Le DUT peut posséder un premier élément conducteur et un second élément conducteur, le premier élément conducteur étant isolé du second élément conducteur par un matériau diélectrique. Le boîtier de semi-conducteur peut en outre comprendre des circuits de mesure couplés au DUT. Le circuit de mesure peut appliquer une tension initiale au DUT, la tension initiale appliquée au premier élément conducteur et peut coupler le second élément conducteur à la terre. Le circuit de mesure peut en outre déterminer une période de temps de décharge concernant une décharge du premier élément conducteur à une tension de seuil à partir de la tension initiale, et déterminer une intégrité d'isolation diélectrique entre le premier élément conducteur et le second élément conducteur en fonction de la période de décharge.