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1. (WO2018124041) PIÈCE COULÉE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UNE PIÈCE COULÉE
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N° de publication : WO/2018/124041 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/046582
Date de publication : 05.07.2018 Date de dépôt international : 26.12.2017
CIB :
C22C 32/00 (2006.01) ,B22D 27/04 (2006.01) ,C22C 1/02 (2006.01) ,C22F 1/00 (2006.01)
Déposants : TOYO KOHAN CO., LTD.[JP/JP]; 2-12, Yonban-cho, Chiyoda-ku, Tokyo 1028447, JP
Inventeurs : YANAGA, Hiroki; JP
TASHIRO, Hirofumi; JP
INAZAWA, Hiroshi; JP
OOGE, Toshikazu; JP
Mandataire : TOKOSHIE PATENT FIRM; Nishishinjuku KN Bldg., 22-27, Nishishinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023, JP
Données relatives à la priorité :
2016-25417127.12.2016JP
2016-25417927.12.2016JP
Titre (EN) CASTING AND METHOD FOR MANUFACTURING CASTING
(FR) PIÈCE COULÉE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UNE PIÈCE COULÉE
(JA) 鋳造材および鋳造材の製造方法
Abrégé : front page image
(EN) Provided is a Ni-B-Si three-element-based casting containing a eutectic part of a solid phase having Ni and B as main components and a solid phase having Ni and Si as main components, wherein, when a straight line is drawn with respect to a surface or a cross section of the eutectic part, the average number of boundaries formed from the solid phase having Ni and B as main components and the solid phase having Ni and Si as main components on the straight line is at least 2.0/µm. Also provided is a casting comprising hard-phase particles having a boride as the main component thereof and a bonded phase including an alloy containing Ni, Si, and B, the average particle diameter of the hard-phase particles being 3 µm or less, the average value of the aspect ratio thereof being 2.0 or less, the contact ratio thereof being 35% or less, and the ratio (IA/IB) of the intensity IA of a peak originating from Ni31Si12 for which the diffraction angle 2θ is 46.8-47.8° and the intensity IB of a peak originating from Ni3Si for which the diffraction angle 2θ is 44.0-45.0° as measured by X-ray diffraction using CuKα as the radiation source is no greater than 1/10.
(FR) L'invention concerne une pièce coulée à base des trois éléments Ni-B-Si contenant une partie eutectique d'une phase solide comprenant du Ni et du B en tant que composants principaux et une phase solide comprenant du Ni et du Si en tant que composants principaux, lorsqu'une ligne droite est tracée par rapport à une surface ou à une section transversale de la partie eutectique, le nombre moyen de limites formées à partir de la phase solide comprenant du Ni et du B en tant que composants principaux et de la phase solide comprenant du Ni et du Si en tant que composants principaux sur la ligne droite étant d'au moins 2,0/µm. L'invention concerne également une pièce moulée comprenant des particules en phase dure comprenant un borure en tant que composant principal de celle-ci et une phase liée comprenant un alliage contenant du Ni, du Si et du B, le diamètre de particule moyen des particules en phase dure étant inférieur ou égal à 3 µm, la valeur moyenne du rapport d'aspect correspondant étant inférieure ou égale à 2,0, le rapport de contact correspondant étant inférieur ou égal à 35 %, et le rapport (IA/IB) de l'intensité IA d'un pic provenant de Ni31Si12 pour lequel l'angle de diffraction 2θ est de 46,8 à 47,8° et de l'intensité IB d'un pic provenant de Ni3Si pour lequel l'angle de diffraction 2θ est de 44,0 à 45,0° tel que mesuré par diffraction des rayons X au moyen de CuKα en tant que source de rayonnement n'est pas supérieur à 1/10.
(JA) NiおよびBを主体とする固相と、NiおよびSiを主体とする固相との共晶部を含有するNi-B-Si3元系の鋳造材であって、前記共晶部の表面または断面に対して直線を引いた場合に、前記直線上における、前記NiおよびBを主体とする固相と、前記NiおよびSiを主体とする固相とから形成される界面の数の平均値が、2.0個/μm以上である鋳造材を提供する。また、硼化物を主体とする硬質相粒子と、Ni、SiおよびBを含有する合金を含む結合相とからなり、前記硬質相粒子の平均粒径が3μm以下、アスペクト比の平均値が2.0以下、接触率が35%以下であり、CuKαを線源とするX線回折測定による、回折角2θが46.8~47.8°のNi31Si12に由来するピークの強度Iと、回折角2θが44.0~45.0°のNiSiに由来するピークの強度Iとの比率(I/I)が1/10以下である鋳造材を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)