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1. (WO2018120283) PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC DE DÉFAUTS DE CIRCUIT DE SIMULATION BASÉ SUR UNE ANALYSE D'ONDELETTE CONTINUE ET UN RÉSEAU ELM

Pub. No.:    WO/2018/120283    International Application No.:    PCT/CN2017/070351
Publication Date: Fri Jul 06 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Jan 07 00:59:59 CET 2017
IPC: G01R 31/28
Applicants: HEFEI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
合肥工业大学
Inventors: HE, Yigang
何怡刚
HE, Wei
何威
LUO, Qiwu
罗旗舞
LI, Zhigang
李志刚
SHI, Tiancheng
施天成
WANG, Tao
汪涛
YUAN, Zhijie
袁志杰
ZHAO, Deqin
赵德勤
SHI, Luqiang
史露强
HE, Liulu
何鎏璐
Title: PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC DE DÉFAUTS DE CIRCUIT DE SIMULATION BASÉ SUR UNE ANALYSE D'ONDELETTE CONTINUE ET UN RÉSEAU ELM
Abstract:
L'invention concerne un procédé de diagnostic de défauts de circuit de simulation basé sur une analyse d'ondelette continue et un réseau ELM, consistant à : acquérir des données : appliquer un échantillonnage de données à des réponses de sortie d'un circuit de simulation au moyen d'une simulation Multisim de façon à acquérir un ensemble de données de réponse de sortie; extraire des caractéristiques : exécuter une analyse d'ondelette continue par considération de l'ensemble de données de réponse de sortie du circuit en tant qu'ensemble de données d'apprentissage et de test pour acquérir une matrice de coefficients de temps-fréquence d'ondelette, la matrice de coefficients étant segmentée en huit sous-matrices de même taille, et appliquer une décomposition en valeurs singulières aux sous-matrices pour calculer une entropie de Tsallis de chaque sous-matrice, de façon à former un vecteur de caractéristique de défaut correspondant; et effectuer une classification de défauts : soumettre les vecteurs de caractéristiques de tous les échantillons au réseau ELM de façon à réaliser une classification de défauts précise et rapide. Le procédé présente un bon effet d'extraction de caractéristiques de défauts de circuit, et permet une classification précise et efficace des défauts de circuit.