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1. (WO2018107779) CIRCUIT D'ATTAQUE DE DEL

Pub. No.:    WO/2018/107779    International Application No.:    PCT/CN2017/096483
Publication Date: Fri Jun 22 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Aug 09 01:59:59 CEST 2017
IPC: H05B 33/08
Applicants: VTRON GROUP CO., LTD.
威创集团股份有限公司
Inventors: LIANG, Hongtao
梁红涛
Title: CIRCUIT D'ATTAQUE DE DEL
Abstract:
L'invention concerne un circuit d'attaque de DEL, comprenant un module de commande, un module à courant constant, un tube MOS, un dispositif de commande de modulation de largeur d'impulsions et un circuit d'échantillonnage de courant. Le module à courant constant est connecté à une DEL au moyen du tube MOS ; le module de commande est connecté au module à courant constant, et est connecté à la base du tube MOS au moyen du dispositif de commande de modulation de largeur d'impulsions ; le tube MOS est connecté séparément au module de commande et au module à courant constant au moyen du circuit d'échantillonnage de courant ; le module à courant constant délivre un courant constant au tube MOS sous la commande d'un signal de commande de courant constant et d'un courant d'échantillonnage ; le tube MOS délivre un courant constant de modulation de largeur d'impulsions à la DEL sous la commande d'un signal de commande de modulation de largeur d'impulsions ; le module de commande délivre le signal de commande de courant constant au module à courant constant, et délivre le signal de commande de modulation de largeur d'impulsions au moyen du dispositif de commande de modulation de largeur d'impulsions ; le circuit d'échantillonnage de courant échantillonne un courant passant par la DEL pour obtenir un courant d'échantillonnage, et renvoie séparément le courant d'échantillonnage au module de commande et au module à courant constant ; le module à courant constant ajuste le courant constant en fonction du courant d'échantillonnage et du signal de commande de courant constant ; le module de commande ajuste le signal de commande de courant constant en fonction du courant d'échantillonnage. Au moyen du circuit d'attaque de DEL, un circuit peut être simplifié, et les coûts peuvent être réduits.