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1. (WO2018107076) APPAREILS ET PROCÉDÉS D'ÉTALONNAGE D'IMPÉDANCES RÉGLABLES D'UN DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/107076 N° de la demande internationale : PCT/US2017/065391
Date de publication : 14.06.2018 Date de dépôt international : 08.12.2017
CIB :
G11C 7/10 (2006.01)
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
7
Dispositions pour écrire une information ou pour lire une information dans une mémoire numérique
10
Dispositions d'interface d'entrée/sortie (E/S, I/O) de données, p.ex. circuits de commande E/S de données, mémoires tampon de données E/S
Déposants : MICRON TECHNOLOGY, INC.[US/US]; 8000 South Federal Way Boise, Idaho 83716-9632, US
Inventeurs : GANS, Dean; US
Mandataire : ENG, Kimton; US
ANDKEN, Kerry Lee; US
HEGSTROM, Brandon; US
ITO, Mika; US
QUECAN, Andrew; US
SPAITH, Jennifer; US
WETZEL, Elen; US
MEIKLEJOHN, PAUL; IP Docket - SE 701 5th Avenue Suite 6100 Seattle, Washington 98104, US
Données relatives à la priorité :
15/834,89207.12.2017US
62/432,49409.12.2016US
Titre (EN) APPARATUSES AND METHODS FOR CALIBRATING ADJUSTABLE IMPEDANCES OF A SEMICONDUCTOR DEVICE
(FR) APPAREILS ET PROCÉDÉS D'ÉTALONNAGE D'IMPÉDANCES RÉGLABLES D'UN DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR
Abrégé :
(EN) Apparatuses and methods for calibrating adjustable impedances of a semiconductor device are disclosed in the present application. An example apparatus includes a register configured to store impedance calibration information and further includes programmable termination resistances having a programmable impedance. The example apparatus further includes an impedance calibration circuit configured to perform a calibration operation to determine calibration parameters for setting the programmable impedance of the programmable termination resistances. The impedance calibration circuit is further configured to program the impedance calibration information in the register related to the calibration operation.
(FR) La présente invention concerne des appareils et des procédés d'étalonnage d'impédances réglables d'un dispositif à semi-conducteur. Un appareil donné à titre d'exemple comprend un registre configuré pour stocker des informations d'étalonnage d'impédance et comprend en outre des résistances de terminaison programmables ayant une impédance programmable. L'appareil donné à titre d'exemple comprend en outre un circuit d'étalonnage d'impédance configuré pour effectuer une opération d'étalonnage afin de déterminer des paramètres d'étalonnage pour régler l'impédance programmable des résistances de terminaison programmables. Le circuit d'étalonnage d'impédance est en outre configuré pour programmer les informations d'étalonnage d'impédance dans le registre associé à l'opération d'étalonnage.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)