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1. (WO2018106949) DISPOSITIF D'ÉCHANTILLONNAGE COMPRENANT UN MÉCANISME DE RÉTROACTION DE FORCE MÉCANIQUE
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N° de publication : WO/2018/106949 N° de la demande internationale : PCT/US2017/065161
Date de publication : 14.06.2018 Date de dépôt international : 07.12.2017
CIB :
G01N 1/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
02
Dispositifs pour prélever des échantillons
Déposants :
RAPISCAN SYSTEMS, INC. [US/US]; 2805 Columbia Street Torrance, CA 90503, US
Inventeurs :
BILODEAU, James, P.; US
HAGERTY, Thomas, A.; US
Mandataire :
DALAL, Sona; US
Données relatives à la priorité :
15/374,33309.12.2016US
Titre (EN) SAMPLING DEVICE INCLUDING MECHANICAL FORCE FEEDBACK MECHANISM
(FR) DISPOSITIF D'ÉCHANTILLONNAGE COMPRENANT UN MÉCANISME DE RÉTROACTION DE FORCE MÉCANIQUE
Abrégé :
(EN) The present disclosure includes a sampling device for collecting a sample from a target surface, the sample device having a handle, a body extending from the handle, and a mechanical force feedback mechanism. The mechanical force feedback mechanism is configured to change an orientation of the body relative to the handle when force is applied to a target surface by the sampling device.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'échantillonnage permettant de collecter un échantillon à partir d'une surface cible, le dispositif d'échantillonnage comportant un manche, un corps s'étendant du manche, et un mécanisme de rétroaction de force mécanique. Le mécanisme de rétroaction de force mécanique est conçu pour modifier une orientation du corps par rapport au manche lors de l'application d'une force à une surface cible par le dispositif d'échantillonnage.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)