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1. (WO2018106509) BLINDAGE DE SÉCURITÉ ARRIÈRE
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N° de publication :    WO/2018/106509    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/063949
Date de publication : 14.06.2018 Date de dépôt international : 30.11.2017
CIB :
H04L 9/12 (2006.01), G06F 21/73 (2013.01), G06K 19/07 (2006.01)
Déposants : CRYPTOGRAPHY RESEARCH INC. [US/US]; c/o Rambus Inc. 1050 Enterprise Way, Suite 700 Sunnyvale, CA 94089 (US).
BEST, Scott C. [US/US]; (US)
Inventeurs : BEST, Scott C.; (US)
Mandataire : NEUDECK, Alexander J.; (US)
Données relatives à la priorité :
62/430,178 05.12.2016 US
Titre (EN) BACKSIDE SECURITY SHIELD
(FR) BLINDAGE DE SÉCURITÉ ARRIÈRE
Abrégé : front page image
(EN)A physically unclonable function circuit (PUF) is used to generate a fingerprint value based on the uniqueness of the physical characteristics (e.g., resistance, capacitance, connectivity, etc.) of a tamper prevention (i.e., shielding) structure that includes through-silicon vias and metallization on the backside of the integrated circuit. The physical characteristics depend on random physical factors introduced during manufacturing. This causes the chip-to-chip variations in these physical characteristics to be unpredictable and uncontrollable which makes more difficult to duplicate, clone, or modify the structure without changing the fingerprint value. By including the through-silicon vias and metallization on the backside of the integrated circuit as part of the PUF, the backside of the chip can be protected from modifications that can be used to help learn the secure cryptographic keys and/or circumvent the secure cryptographic (or other) circuitry.
(FR)L'invention concerne un circuit de fonction physiquement non clonable (PUF) qui est utilisé pour générer une valeur d'empreinte digitale sur la base de l'unicité des caractéristiques physiques (par exemple, résistance, capacité, connectivité, etc.) Une structure anti-sabotage (c'est-à-dire, blindage) comprend des trous d'interconnexion traversants en silicium et une métallisation sur le coté arrière du circuit intégré. Les caractéristiques physiques dépendent des facteurs physiques aléatoires introduits pendant la fabrication. Ceci amène les variations puce à puce dans ces caractéristiques physiques à être imprévisibles et non contrôlables, ce qui rend plus difficile la reproduction, le clone ou la modification de la structure sans changer la valeur d'empreinte digitale. En incluant les trous d'interconnexion traversants en silicium et la métallisation sur le côté arrière du circuit intégré en tant que partie de la PUF, le coté arrière de la puce peut être protégé contre des modifications qui peuvent être utilisées pour aider à apprendre les clés cryptographiques sécurisées et/ou à contourner la circuiterie cryptographique sécurisée (ou autre).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)