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1. (WO2018105721) DISPOSITIF D’ANALYSE DE PARTICULES, DISPOSITIF DE SÉPARATION DE PARTICULES, PROCÉDÉ D’ANALYSE DE PARTICULES, ET PROCÉDÉ DE SÉPARATION DE PARTICULES
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N° de publication : WO/2018/105721 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/044155
Date de publication : 14.06.2018 Date de dépôt international : 08.12.2017
CIB :
G01N 27/76 (2006.01)
Déposants : KAWANO LAB. INC.[JP/JP]; 2-12-9, Ishibashi, Ikeda-shi Osaka 5630032, JP
FUJIKURA LTD.[JP/JP]; 1-5-1, Kiba, Koto-ku Tokyo 1358512, JP
Inventeurs : KAWANO Makoto; JP
Mandataire : MAEI Hiroyuki; JP
Données relatives à la priorité :
2016-23843808.12.2016JP
Titre (EN) PARTICLE ANALYZING DEVICE, PARTICLE SEPARATING DEVICE, PARTICLE ANALYSIS METHOD, AND PARTICLE SEPARATING METHOD
(FR) DISPOSITIF D’ANALYSE DE PARTICULES, DISPOSITIF DE SÉPARATION DE PARTICULES, PROCÉDÉ D’ANALYSE DE PARTICULES, ET PROCÉDÉ DE SÉPARATION DE PARTICULES
(JA) 粒子分析装置、粒子分離装置、粒子分析方法、及び粒子分離方法
Abrégé : front page image
(EN) A particle analyzing device (10) is provided with a processing device (42) and a storage device (41). The processing device (42) acquires a bulk susceptibility of a particle (p) being analyzed. The storage device (41) stores reference data (43). The reference data (43) represent the bulk susceptibility of a reference particle of the same type as the particle (p) being analyzed, for each crystal form that the particle (p) being analyzed is capable of adopting. The processing device (42) determines the crystal form of the particle (p) being analyzed on the basis of the bulk susceptibility of the particle (p) being analyzed and the reference data (43).
(FR) L’invention concerne un dispositif d’analyse (10) de particules qui comporte un dispositif de traitement (42) et un dispositif de support d’informations (41). Le dispositif de traitement (42) acquiert une susceptibilité groupée d’une particule (p) qui est analysée. Le dispositif de support d'infotmations (41) contient des données de référence (43). Les données de référence (43) représentent la susceptibilité groupée d’une particule de référence du même type que la particule (p) qui est analysée, pour chaque forme cristalline que la particule (p) qui est analysée peut adopter. Le dispositif de traitement (42) détermine la forme cristalline de la particule (p) qui est analysée sur la base de la susceptibilité groupée de la particule (p) qui est analysée et des données de référence (43).
(JA) 粒子分析装置(10)は、処理装置(42)と、記憶装置(41)とを備える。処理装置(42)は、分析対象の粒子(p)の体積磁化率を取得する。記憶装置(41)は、基準データ(43)を記憶する。基準データ(43)は、分析対象の粒子(p)と同じ種類の基準粒子の体積磁化率を、分析対象の粒子(p)が有し得る結晶形ごとに示す。処理装置(42)は、分析対象の粒子(p)の体積磁化率と、基準データ(43)とに基づいて、分析対象の粒子(p)の結晶形を判定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)