Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018103693) PROCÉDÉ DE MESURE DE LUMIÈRE HYBRIDE POUR MESURER UN PROFIL TRIDIMENSIONNEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/103693 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/115007
Date de publication : 14.06.2018 Date de dépôt international : 07.12.2017
CIB :
G01B 11/25 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
25
en projetant un motif, p.ex. des franges de moiré, sur l'objet
Déposants :
西安知象光电科技有限公司 XI'AN CHISHINE OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO.LTD. [CN/CN]; 中国陕西省西安市 高新区锦业路69号创新商务公寓1号楼10506室周翔 ZHOU, Xiang Room 10506, Building 1, Innovative Business Apartment 69 Jinye Road, High-tech Zone, Xi'an, Shaanxi 710065, CN
Inventeurs :
周翔 ZHOU, Xiang; CN
李玉勤 LI, Yuqin; CN
李欢欢 LI, Huanhuan; CN
杨涛 YANG, Tao; CN
马力 MA, Li; CN
郭迪 GUO, Di; CN
姚东 YAO, Dong; CN
Mandataire :
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) BEIJING KEYI INTELLECTUAL PROPERTY FIRM; 中国北京市 海淀区蓟门里和景园1-2-502号汤东凤 TANG, Dongfeng Hejingyuan No.1-2-502, Jimenli, Haidian District. Beijing 100024, CN
Données relatives à la priorité :
201611117498.507.12.2016CN
Titre (EN) HYBRID LIGHT MEASUREMENT METHOD FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL PROFILE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE LUMIÈRE HYBRIDE POUR MESURER UN PROFIL TRIDIMENSIONNEL
(ZH) 一种三维轮廓的光学混合检测方法
Abrégé :
(EN) A hybrid light measurement method for measuring a three-dimensional profile comprises: Step 1 using an MEMS laser projector to realize projection of a laser light pattern and a grating: and Step 2 performing matching to obtain a parallax, and incorporating a binocular stereo vision to perform reconstruction. The present invention employs MEMS projection technology to realize a hybrid measurement system capable of performing light pattern measurement and grating measurement, thereby realizing quick measurement of three-dimensional profiles of objects having different surface properties. The present invention enables light pattern measurement and grating measurement to be performed by the same measurement system without needing any additional hardware equipment. The projection device used in the present invention enables projection of multiple light patterns, thereby increasing measurement precision and speed.
(FR) L'invention concerne un procédé de mesure de lumière hybride qui permet de mesurer un profil tridimensionnel et qui comprend les étapes suivantes : (1) l'utilisation d'un projecteur laser MEMS afin d'effectuer la projection d'un motif de lumière laser et un réseau ; (2) l'exécution d'une mise en correspondance pour obtenir une parallaxe et l'incorporation d'une vision stéréo binoculaire afin d'effectuer une reconstruction. La présente invention utilise une technologie de projection MEMS afin d'obtenir un système de mesure hybride qui soit capable d'effectuer une mesure de motif de lumière et une mesure de réseau, ce qui permet d'effectuer une mesure rapide de profils tridimensionnels d'objets présentant des propriétés de surface différentes. La présente invention permet d'effectuer une mesure de motif de lumière et une mesure de réseau par le même système de mesure sans nécessiter d'équipement matériel supplémentaire. Le dispositif de projection utilisé dans la présente invention permet la projection de motifs de lumière multiples, ce qui permet d'augmenter la précision et la vitesse de la mesure.
(ZH) 一种三维轮廓的光学混合检测方法,步骤1,通过MEMS激光投影仪实现激光光刀和光栅投影;步骤2,匹配求视差,与双目立体视觉结合进行重建。采用MEMS投影技术实现同一个测量系统完成光刀和光栅混合测量,可以快速实现不同表面特性物体三维轮廓测量。采用同一个测量系统不增加任何硬件设备情况下实现光刀光栅两种测量方法;采用的投影装置可以快速投影多光刀,提高了测量精度与速度。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)