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1. (WO2018103355) DISPOSITIF CT EN SPIRALE ET PROCÉDÉ DE RECONSTRUCTION D'IMAGE TRIDIMENSIONNELLE
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N° de publication : WO/2018/103355 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/096017
Date de publication : 14.06.2018 Date de dépôt international : 04.08.2017
CIB :
G01V 5/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
V
GÉOPHYSIQUE; MESURE DE LA GRAVITATION; DÉTECTION DES MASSES OU OBJETS; MARQUES D'IDENTIFICATION
5
Prospection ou détection au moyen de radiations nucléaires, p.ex. de la radioactivité naturelle ou provoquée
Déposants :
同方威视技术股份有限公司 NUCTECH COMPANY LIMITED [CN/CN]; 中国北京市 海淀区双清路同方大厦A座2层 2nd Floor, Block A, Tongfang Building Shuangqinglu, Haidian District Beijing 100084, CN
Inventeurs :
陈志强 CHEN, Zhiqiang; CN
赵自然 ZHAO, Ziran; CN
刘耀红 LIU, Yaohong; CN
顾建平 GU, Jianping; CN
易茜 YI, Qian; CN
刘必成 LIU, Bicheng; CN
徐光明 XU, Guangming; CN
Mandataire :
中科专利商标代理有限责任公司 CHINA SCIENCE PATENT & TRADEMARK AGENT LTD.; 中国北京市 海淀区西三环北路87号4-1105室 Suite 4-1105, No. 87, West 3rd Ring North Rd., Haidian District Beijing 100089, CN
Données relatives à la priorité :
201611117356.907.12.2016CN
Titre (EN) SPIRAL CT DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE RECONSTRUCTION METHOD
(FR) DISPOSITIF CT EN SPIRALE ET PROCÉDÉ DE RECONSTRUCTION D'IMAGE TRIDIMENSIONNELLE
(ZH) 螺旋CT设备和三维图像重建方法
Abrégé :
(EN) A spiral CT device (100) and a three-dimensional image reconstruction method. The spiral CT device (100) comprises: an inspection platform (110) used for supporting an object to be inspected, the inspection platform (110) defining an inspection space (150) located thereon and used for accommodating the object to be inspected; a rotating support apparatus (120), in an inspection state, surrounding the inspection space (150) in a plane parallel to a first direction and capable of rotating around the inspection space (150); multiple x-ray sources (130) arranged on the rotating support apparatus (120) and used for transmitting X-rays passing through the inspection space (150); multiple X-ray receiving devices (140) corresponding one-to-one to the multiple X-ray sources (130), respectively arranged on the rotating support apparatus (120) opposite the multiple X-ray sources (130), and used for capturing X-ray signals passing through the inspection space (150), where the multiple X-ray sources (130) and the multiple X-ray receiving devices (140) can consistently rotate with the rotating support apparatus (120).
(FR) L'invention concerne un dispositif CT en spirale (100) et un procédé de reconstruction d'image tridimensionnelle. Le dispositif CT en spirale (100) comprend : une plateforme d'inspection (110) utilisée afin de soutenir un objet à inspecter, la plateforme d'inspection (110) définissant un espace d'inspection (150) situé sur cette dernière et utilisée afin de recevoir l'objet à inspecter ; un appareil de support rotatif (120), dans un état d'inspection, entourant l'espace d'inspection (150) dans un plan parallèle à une première direction et pouvant tourner autour de l'espace d'inspection (150) ; des sources de rayons X multiples (130) agencées sur l'appareil de support rotatif (120) et utilisées afin d'émettre des rayons X passant à travers l'espace d'inspection (150) ; des dispositifs de réception de rayons X multiples (140) correspondant de façon biunivoque aux sources de rayons X (130) multiples, respectivement agencés sur l'appareil de support rotatif (120) à l'opposé des sources de rayons X multiples (130) et utilisés afin de capturer des signaux de rayons X passant à travers l'espace d'inspection (150), les sources de rayons X multiples (130) et les dispositifs de réception de rayons X multiples (140) pouvant tourner de façon cohérente avec l'appareil de support rotatif (120).
(ZH) 一种螺旋CT设备(100)和一种三维图像重建方法。螺旋CT设备(100)包括:检测台(110),用于承载待检对象,检测台(110)限定出位于其上方的用于容纳待检对象的检测空间(150);转动支撑装置(120),在检测状态下,在平行于第一方向的平面内围绕检测空间(150),并能够围绕检测空间(150)进行转动;多个X射线源(130),位于转动支撑装置(120)上,用于发送经过检测空间(150)的X射线;多个X射线接收装置(140),与多个X射线源(130)一一对应,分别与多个X射线源(130)相对地位于转动支撑装置(120)上,用于采集穿过检测空间(150)的X射线信号,其中,多个X射线源(130)和多个X射线接收装置(140)能够随转动支撑装置(120)一致转动。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)