Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018102470) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE SPECTROSCOPIE INFRAROUGE POUR MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE EN IMAGERIE CHIMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/102470 N° de la demande internationale : PCT/US2017/063810
Date de publication : 07.06.2018 Date de dépôt international : 29.11.2017
CIB :
G01N 21/47 (2006.01) ,B82Y 35/00 (2011.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47
Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
82
NANOTECHNOLOGIE
Y
UTILISATION OU APPLICATIONS SPÉCIFIQUES DES NANOSTRUCTURES; MESURE OU ANALYSE DES NANOSTRUCTURES; FABRICATION OU TRAITEMENT DES NANOSTRUCTURES
35
Procédés ou appareils pour la mesure ou l’analyse des nanostructures
Déposants :
ANASYS INSTRUMENTS CORPORATION [US/US]; 325 Chapala Street Santa Barbara, CA 93101, US
Inventeurs :
PRATER, Craig; US
KJOLLER, Kevin; US
SHETTY, Roshan; US
Mandataire :
PEDERSEN, Brad, D.; US
CHADWICK, Eric, H.; US
BIASCO, Tye; US
BRUZZONE, Daniel, L.; US
BURGESS, Daidre, L.; US
Données relatives à la priorité :
62/427,67129.11.2016US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR CHEMICAL IMAGING ATOMIC FORCE MICROSCOPE INFRARED SPECTROSCOPY
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE SPECTROSCOPIE INFRAROUGE POUR MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE EN IMAGERIE CHIMIQUE
Abrégé :
(EN) Methods and apparatus for performing spectroscopy from the scale of nanometers to millimeters and imaging techniques including atomic force microscopy, infrared spectroscopy, confocal microscopy, Raman spectroscopy and mass spectrometry. For infrared spectroscopy, a sample is illuminated with infrared light and the resulting sample distortion is read out with either a focused UV/visible light beam and/or AFM tip. The combination of both techniques provides a rapid and large area survey scan with the UV /visible light and a high resolution measurement with the AFM tip. The methods and apparatus also include the ability to analyze light reflected/scattered from the sample via a Raman spectrometer for complementary analysis by Raman spectroscopy.
(FR) L'invention concerne des procédés et un appareil pour effectuer une spectroscopie à une échelle allant des nanomètres aux millimètres et des techniques d'imagerie comprenant la microscopie à force atomique, la spectroscopie infrarouge, la microscopie confocale, la spectroscopie Raman et la spectrométrie de masse. Pour la spectroscopie infrarouge, un échantillon est éclairé à l'aide d'une lumière infrarouge et la distorsion d'échantillon obtenue est lue soit avec un faisceau de lumière UV/visible focalisé, et/ou une pointe de sonde AFM. La combinaison des deux techniques permet un balayage d'observation rapide et d'une grande surface avec la lumière UV/visible et une mesure de résolution élevée avec la pointe de sonde AFM. Les procédés et l'appareil selon l'invention englobent également la capacité d'analyser la lumière réfléchie/diffusée à partir de l'échantillon par l'intermédiaire d'un spectromètre Raman pour une analyse complémentaire par spectroscopie Raman.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)