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1. (WO2018102147) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ESTIMATION ET DE COMPENSATION DE DÉRIVE D'ÉCHANTILLON PENDANT L'ACQUISITION DE DONNÉES EN MICROSCOPIE DE FLUORESCENCE

Pub. No.:    WO/2018/102147    International Application No.:    PCT/US2017/062125
Publication Date: Fri Jun 08 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Sat Nov 18 00:59:59 CET 2017
IPC: G02B 21/36
G01N 21/64
Applicants: UNIVERSITY OF PITTSBURGH-OF THE COMMONWEALTH SYSTEM OF HIGHER EDUCATION
Inventors: MA, Hongqiang
LIU, Yang
Title: SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ESTIMATION ET DE COMPENSATION DE DÉRIVE D'ÉCHANTILLON PENDANT L'ACQUISITION DE DONNÉES EN MICROSCOPIE DE FLUORESCENCE
Abstract:
L'invention concerne un procédé d'estimation d'un changement relatif de la position 3D d'un objet (par exemple, dérive d'échantillon dans un système de microscopie) comportant des repères de référence, qui présentent une distribution de fonction d'étalement du point commun asymétrique. Ce procédé consiste à : générer une pluralité de courbes d'étalonnage pour chacun des repères pendant une phase d'étalonnage, incluant des premières courbes d'étalonnage pour une largeur PSF, et des deuxièmes courbes d'étalonnage pour une distorsion latérale ; capturer une première image des marqueurs pendant une phase d'acquisition de données ; générer une première position 3D commune pour les marqueurs à l'aide de la première image, des premières courbes d'étalonnage et des deuxièmes courbes d'étalonnage ; capturer une deuxième image des marqueurs pendant la phase d'acquisition de données ; générer une deuxième position 3D commune pour les marqueurs à l'aide de la deuxième image et des premières et deuxièmes courbes d'étalonnage ; et estimer la dérive d'échantillon à l'aide de la première position 3D commune et de la deuxième position 3D commune.