Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018101966) DÉTERMINATION DE FRÉQUENCE PERMETTANT D'OBTENIR UN RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT ÉLEVÉ DANS DES RÉCEPTEURS À FAIBLE IMPÉDANCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/101966 N° de la demande internationale : PCT/US2016/064746
Date de publication : 07.06.2018 Date de dépôt international : 02.12.2016
CIB :
G01V 3/32 (2006.01) ,G01V 3/14 (2006.01) ,E21B 47/00 (2006.01) ,G01R 33/44 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
V
GÉOPHYSIQUE; MESURE DE LA GRAVITATION; DÉTECTION DES MASSES OU OBJETS; MARQUES D'IDENTIFICATION
3
Prospection ou détection électrique ou magnétique; Mesure des caractéristiques du champ magnétique de la terre, p.ex. de la déclinaison ou de la déviation
18
spécialement adaptée au carottage
32
fonctionnant par résonance magnétique électronique ou nucléaire
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
V
GÉOPHYSIQUE; MESURE DE LA GRAVITATION; DÉTECTION DES MASSES OU OBJETS; MARQUES D'IDENTIFICATION
3
Prospection ou détection électrique ou magnétique; Mesure des caractéristiques du champ magnétique de la terre, p.ex. de la déclinaison ou de la déviation
14
fonctionnant par résonance magnétique électronique ou nucléaire
E CONSTRUCTIONS FIXES
21
FORAGE DU SOL OU DE LA ROCHE; EXPLOITATION MINIÈRE
B
FORAGE DU SOL OU DE LA ROCHE; EXTRACTION DU PÉTROLE, DU GAZ, DE L'EAU OU DE MATÉRIAUX SOLUBLES OU FUSIBLES OU D'UNE SUSPENSION DE MATIÈRES MINÉRALES À PARTIR DE PUITS
47
Relevés dans les trous de forage ou dans les puits
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33
Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
20
faisant intervenir la résonance magnétique
44
utilisant la résonance magnétique nucléaire (RMN)
Déposants :
HALLIBURTON ENERGY SERVICES, INC. [US/US]; 3000 N. Sam Houston Parkway E. Houston, Texas 77032-3219, US
Inventeurs :
CHIMAKURTHY, Lakshmi Sri Jyothi; US
Mandataire :
JUSTISS, J. Joel; US
PARKER JUSTISS, P.C.; P.O. Box 832570 Richardson, Texas 75083, US
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DETERMINING FREQUENCY FOR ACHIEVING A HIGH SIGNAL-TO-NOISE RATIO IN LOW IMPEDANCE RECEIVERS
(FR) DÉTERMINATION DE FRÉQUENCE PERMETTANT D'OBTENIR UN RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT ÉLEVÉ DANS DES RÉCEPTEURS À FAIBLE IMPÉDANCE
Abrégé :
(EN) ABSTRACT OF THE DISCLOSURE A circuit, system and method for measuring the optimal frequency of transmission and reception for achieving the best possible signal-to-noise ratio (SNR) in low impedance receive systems are provided. In one embodiment, the circuit includes: (1) an antenna that transmits and receives radio-frequency (RF) signals, (2) a receive circuit that is connected to the antenna during a receive mode and a calibration mode, wherein the receive circuit includes an amplifier having a low input impedance, and (3) an impedance switching circuit that places the amplifier in a high input impedance state during the calibration mode.
(FR) L'invention concerne un circuit, un système et un procédé de mesure de la fréquence optimale d'émission et de réception afin d'obtenir le meilleur rapport signal sur bruit (SNR) possible dans des systèmes de réception à faible impédance. Dans un mode de réalisation, le circuit comprend : (1) une antenne qui émet et reçoit des signaux de radiofréquence (RF), (2) un circuit de réception connecté à l'antenne pendant un mode de réception et un mode d'étalonnage, le circuit de réception comprenant un amplificateur présentant une faible impédance d'entrée, et (3) un circuit de commutation d'impédance qui place l'amplificateur dans un état d'impédance d'entrée élevée pendant le mode d'étalonnage.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)