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1. (WO2018101233) DISPOSITIF DE MESURE DE RÉSISTANCE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE RÉSISTANCE
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N° de publication :    WO/2018/101233    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/042509
Date de publication : 07.06.2018 Date de dépôt international : 28.11.2017
CIB :
G01R 27/02 (2006.01)
Déposants : NIDEC-READ CORPORATION [JP/JP]; 10, Nishikyogokutsutsumisoto-cho, Ukyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6150854 (JP)
Inventeurs : YAMASHITA Munehiro; (JP)
Mandataire : YANAGINO Takao; (JP).
YANAGINO YOSHIHIDE; Noskmard Building, 1-15-1, Miyahara, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320003 (JP).
MORIOKA Norio; (JP).
SEKIGUCHI Hisayoshi; (JP).
OHNISHI Hiroto; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-233892 01.12.2016 JP
Titre (EN) RESISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND RESISTANCE MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE RÉSISTANCE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE RÉSISTANCE
(JA) 抵抗測定装置及び抵抗測定方法
Abrégé : front page image
(EN)A resistance measurement device is provided with a current supply unit CS for supplying a supply current Io to a supply-side conductive part from among conductive parts P, a current draw-in unit CM for drawing in a draw-in current Ii from a draw-in-side conductive part from among the conductive parts, a supply-side voltage detection unit VM1 for detecting a supply-side voltage V1 that is the voltage between the supply-side conductive part and a voltage measurement conductive part that is a conductive part different from the supply-side conductive part and the draw-in-side conductive part, a draw-in-side voltage detection unit VM2 for detecting a draw-in-side voltage V2 that is the voltage between the draw-in-side conductive part and the voltage measurement conductive part, and a resistance calculation unit 22 for calculating a resistance value for a connection part paired with the supply-side conductive part on the basis of the supply current Io and the supply-side voltage V1 and calculating a resistance value for a connection part paired with the draw-in-side conductive part on the basis of the draw-in current Ii and the draw-in-side voltage V2.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure de résistance qui est pourvu d’une unité de distribution de courant CS pour distribuer un courant d’alimentation Io à une partie conductrice côté distribution parmi des parties conductrices P, une unité d’extraction de courant CM pour extraire un courant d’extraction Ii depuis une partie conductrice côté extraction parmi les parties conductrices, une unité de détection de tension côté distribution VM1 pour détecter une tension côté alimentation V1 qui est la tension entre la partie conductrice côté distribution et une partie conductrice de mesure de tension qui est une partie conductrice différente de la partie conductrice côté distribution et de la partie conductrice côté extraction, une unité de détection de tension côté extraction VM2 pour détecter une tension côté extraction V2 qui est la tension entre la partie conductrice côté extraction et la partie conductrice de mesure de tension, et une unité de calcul de résistance 22 pour calculer une valeur de résistance pour une partie de connexion appariée à la partie conductrice côté distribution sur la base du courant de distribution Io et de la tension côté distribution V1 et calculer une valeur de résistance pour une partie de connexion appariée à la partie conductrice côté entrée sur la base du courant d’entrée Ii et de la tension côté entrée V2.
(JA)各導電部Pのうちの一つである供給側導電部に供給電流Ioを供給するための電流供給部CSと、各導電部のうちの一つである引込側導電部から引込電流Iiを引き込むための電流引込部CMと、供給側導電部及び引込側導電部とは異なる導電部である電圧測定用導電部と供給側導電部との間の電圧である供給側電圧V1を検出する供給側電圧検出部VM1と、電圧測定用導電部と引込側導電部との間の電圧である引込側電圧V2を検出する引込側電圧検出部VM2と、供給電流Ioと供給側電圧V1とに基づいて供給側導電部と対になる接続部の抵抗値を算出し、引込電流Iiと引込側電圧V2とに基づいて引込側導電部と対になる接続部の抵抗値を算出する抵抗算出部22とを備えた。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)