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1. (WO2018100718) DISPOSITIF D'ÉVALUATION, PROCÉDÉ D'ÉVALUATION POUR PRODUIT DE SÉCURITÉ, ET PROGRAMME D'ÉVALUATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/100718    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/085767
Date de publication : 07.06.2018 Date de dépôt international : 01.12.2016
CIB :
G06F 21/57 (2013.01)
Déposants : MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP)
Inventeurs : YAMAMOTO, Takumi; (JP).
NISHIKAWA, Hiroki; (JP).
KITO, Keisuke; (JP).
KAWAUCHI, Kiyoto; (JP)
Mandataire : MIZOI, Shoji; (JP).
KITAMURA, Shingo; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) EVALUATION DEVICE, EVALUATION METHOD FOR SECURITY PRODUCT, AND EVALUATION PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ÉVALUATION, PROCÉDÉ D'ÉVALUATION POUR PRODUIT DE SÉCURITÉ, ET PROGRAMME D'ÉVALUATION
(JA) 評価装置、セキュリティ製品の評価方法および評価プログラム
Abrégé : front page image
(EN)In an evaluation device (100), an attack generation unit (111) generates an attack sample. The attack sample is data for simulating an unauthorized action against a system. A comparison unit (112) compares the attack sample generated by the attack generation unit (111) with a normal state model. The normal state model is data of a model of authorized actions performed on the system. On the basis of the comparison result, the comparison unit (112) generates information for generating an attack sample similar to the normal state model, and feeds back the generated information to the attack generation unit (111). A verification unit (113) verifies whether the attack sample generated by the attack generation unit (111) satisfies requirements for simulating an unauthorized action, and if the attack sample satisfies the requirements, then the verification unit (113) uses the attack sample to verify a detection technique implemented in a security product.
(FR)Selon l'invention, dans un dispositif (100) d'évaluation, une unité (111) de génération d'attaque génère un échantillon d'attaque. L'échantillon d'attaque est constitué de données destinées à simuler une action non autorisée contre un système. Une unité (112) de comparaison compare l'échantillon d'attaque généré par l'unité (111) de génération d'attaque à un modèle d'état normal. Le modèle d'état normal est constitué de données d'un modèle d'actions autorisées effectuées sur le système. Sur la base du résultat de comparaison, l'unité (112) de comparaison génère des informations servant à générer un échantillon d'attaque similaire au modèle d'état normal, et renvoie les informations générées à l'unité (111) de génération d'attaque. Une unité (113) de vérification vérifie si l'échantillon d'attaque généré par l'unité (111) de génération d'attaque satisfait des exigences pour simuler une action non autorisée, et si l'échantillon d'attaque satisfait les exigences, l'unité (113) de vérification utilise l'échantillon d'attaque pour valider une technique de détection mise en œuvre dans un produit de sécurité.
(JA)評価装置(100)において、攻撃生成部(111)は、攻撃サンプルを生成する。攻撃サンプルは、システムに対する不正な行為を模擬するためのデータである。比較部(112)は、攻撃生成部(111)により生成された攻撃サンプルと、正常状態モデルとを比較する。正常状態モデルは、システムに対する正当な行為をモデル化したデータである。比較部(112)は、比較結果に基づいて、正常状態モデルに類似した攻撃サンプルを生成するための情報を生成し、生成した情報を攻撃生成部(111)にフィードバックする。検証部(113)は、攻撃生成部(111)により生成された攻撃サンプルが、不正な行為を模擬するための要件を満たしているかどうか確認し、その要件を満たしている攻撃サンプルを用いて、セキュリティ製品に実装されている検知技術を検証する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)