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1. (WO2018098833) PROCÉDÉ DE MESURE ET D'ESTIMATION DE HAUTEUR DE SURFACE IRRÉGULIÈRE DE LAME DE MICROSCOPE, ET MICROSCOPE
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N° de publication : WO/2018/098833 N° de la demande internationale : PCT/CN2016/108471
Date de publication : 07.06.2018 Date de dépôt international : 04.12.2016
CIB :
G01B 11/06 (2006.01) ,G02B 21/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
06
pour mesurer l'épaisseur
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
Déposants :
殷跃锋 YIN, Yuefeng [CN/CN]; CN
Inventeurs :
殷跃锋 YIN, Yuefeng; CN
Données relatives à la priorité :
201611077830.X30.11.2016CN
Titre (EN) HEIGHT MEASURING AND ESTIMATION METHOD OF UNEVEN SURFACE OF MICROSCOPE SLIDE, AND MICROSCOPE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE ET D'ESTIMATION DE HAUTEUR DE SURFACE IRRÉGULIÈRE DE LAME DE MICROSCOPE, ET MICROSCOPE
(ZH) 显微镜载玻片曲面高度值的测算方法以及一种显微镜
Abrégé :
(EN) A height measuring and estimation method of a slide for a microscope, and microscope using same. By means of height estimation and a slide position in a microscope system, a method of performing continuous scanning to obtain clear images for a high magnifying power is obtained. A standard slide is used as a template to acquire heights of all reference measurement points of another slide under test. The measuring and estimation method is obtained by means of a conversion relationship from a function formula set of position coordinates and heights. The present invention enables accurate measurement and estimation of heights of an uneven surface of a slide, and application of this method of measuring a height of an uneven surface to an automatic scanning microscope, thus realizing a rapid microscopic image scan of a specimen object on a slide.
(FR) La présente invention concerne un procédé de mesure et d'estimation de hauteur d'une lame pour un microscope, et un microscope utilisant celui-ci. Au moyen d'une estimation de hauteur et d'une position de lame dans un système de microscope, un procédé de conduite d'un balayage continu pour obtenir des images nettes pour un pouvoir de grossissement élevé est obtenu. Une lame standard est utilisée en tant que modèle pour acquérir des hauteurs de tous les points de mesure de référence d'une autre lame soumise à essai. Le procédé de mesure et d'estimation est obtenu au moyen d'une relation de conversion à partir d'un ensemble de formules de fonction de coordonnées de position et de hauteurs. La présente invention permet une mesure et une estimation précises de hauteurs d'une surface irrégulière d'une lame, et l'application de ce procédé de mesure d'une hauteur d'une surface irrégulière à un microscope à balayage automatique, de façon réaliser un balayage d'image microscopique rapide d'un objet d'échantillon sur une lame.
(ZH) 一种显微镜测算载玻片的高度值的方法及其显微镜,通过高度值推算载玻片在显微镜体系内的位置以获得在高倍放大时能够连续扫描获得清晰图像的方法,通过一个标准载玻片作为模板获得另一个待测载玻片上所有标准测量点的高度值,该测算方法是通过位置坐标与高度值的函数方程组的换算关系获得的。其能够准确的测算出任一张载玻片的曲面高度,并将这种测量曲面高度的方法应用到自动扫描显微镜里面,实现对载玻片上样本物体的显微快速图像扫描。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)