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1. (WO2018098516) DÉTERMINATION DE L'ÉTAT DE MODULES PHOTOVOLTAÏQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2018/098516 N° de la demande internationale : PCT/AU2016/051183
Date de publication : 07.06.2018 Date de dépôt international : 01.12.2016
CIB :
H02S 50/15 (2014.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G01N 21/66 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01) ,G06T 7/00 (2017.01)
[IPC code unknown for H02S 50/15]
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63
excité optiquement
64
Fluorescence; Phosphorescence
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
66
excité électriquement, p.ex. par électroluminescence
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7
Analyse d'image, p.ex. à partir d'un mappage binaire pour obtenir un mappage non binaire
Déposants :
BT IMAGING PTY LTD [AU/AU]; PO Box 3008 Redfern, New South Wales 2016, AU
Inventeurs :
TRUPKE, Thorsten; AU
MAXWELL, Ian Andrew; AU
BARDOS, Robert Andrew; AU
WEBER, Juergen; AU
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DETERMINING THE CONDITION OF PHOTOVOLTAIC MODULES
(FR) DÉTERMINATION DE L'ÉTAT DE MODULES PHOTOVOLTAÏQUES
Abrégé :
(EN) Apparatus and methods are presented for determining the condition of photovoltaic modules at one or more points in time, in particular using line-scanning luminescence imaging techniques. One or more photoluminescence and/or electroluminescence images of a module are acquired and processed using one or more algorithms to provide module data, including the detection of defects that may cause or have caused module failure. Also presented is a system and method for determining the condition of photovoltaic modules, preferably throughout the production, transport, installation and service life of the photovoltaic modules.
(FR) La présente invention concerne un appareil et des procédés de détermination de l'état de modules photovoltaïques à un ou plusieurs moments, en particulier à l'aide de techniques d'imagerie par luminescence à balayage linéaire. Une ou plusieurs images de photoluminescence et/ou d'électroluminescence d'un module sont acquises et traitées à l'aide d'un ou plusieurs algorithmes afin de fournir des données de module, comprenant la détection de défauts qui peuvent provoquer ou ont provoqué une défaillance de module. L'invention concerne également un système et un procédé de détermination de l'état de modules photovoltaïques, de préférence tout au long de la production, du transport, de l'installation et de la durée de vie des modules photovoltaïques.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)