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1. (WO2018097569) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE RECONSTRUCTION HOLOGRAPHIQUE NUMÉRIQUE UTILISANT UN PROCÉDÉ DE DÉPHASAGE DE GÉNÉRATION UNIQUE

Pub. No.:    WO/2018/097569    International Application No.:    PCT/KR2017/013238
Publication Date: Fri Jun 01 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Nov 22 00:59:59 CET 2017
IPC: G02B 5/32
G03H 1/04
Applicants: NAEILHAE, CO. LTD.
주식회사 내일해
Inventors: KIM, Byung Mok
김병목
SUNG, Mal Eum
성맑음
PARK, Seong Jin
박성진
LEE, Sang Jin
이상진
Title: DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE RECONSTRUCTION HOLOGRAPHIQUE NUMÉRIQUE UTILISANT UN PROCÉDÉ DE DÉPHASAGE DE GÉNÉRATION UNIQUE
Abstract:
Selon la présente invention, un procédé de reconstruction holographique numérique utilisant un procédé de déphasage de génération unique comprend les étapes suivantes : a) l'acquisition d'un hologramme d'objet d'un objet devant être mesuré ; b) la génération d'un premier hologramme d'objet déphasé par séparation et extraction, à partir de l'hologramme d'objet acquis, des informations de lumière d'objet comportant des informations de phase de l'objet devant être mesuré et des informations de lumière de référence ne comportant pas d'informations de phase de l'objet devant être mesuré ; c) la génération d'un deuxième hologramme d'objet déphasé par décalage d'une phase jusqu'à 90 degrés pour les informations de lumière de référence extraites ; d) la génération d'un troisième hologramme d'objet déphasé par décalage de la phase jusqu'à 180 degrés pour les informations de lumière de référence extraites ; e) la génération d'un quatrième hologramme d'objet déphasé par décalage de la phase jusqu'à 270 degrés pour les informations de lumière de référence extraites ; f) l'élimination des informations de courant continu (CC), du bruit de courant continu et des informations d'image virtuelle par utilisation des premier à quatrième hologrammes d'objet déphasés générés et d'un procédé de déphasage, ce qui permet d'extraire des informations de phase de l'objet devant être mesuré ; et g) la compensation des informations de phase déformées dans les informations de phase extraites et calcul des informations quantitatives d'épaisseur de l'objet devant être mesuré par utilisation des informations de phase compensées, ce qui permet de reconstruire des informations de forme tridimensionnelle et les informations quantitatives d'épaisseur de l'objet devant être mesuré.