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1. (WO2018096120) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE DISTANCE
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N° de publication : WO/2018/096120 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/080419
Date de publication : 31.05.2018 Date de dépôt international : 24.11.2017
CIB :
G01B 11/06 (2006.01) ,G01B 21/04 (2006.01) ,G01B 5/00 (2006.01) ,G01B 11/245 (2006.01) ,G01B 11/25 (2006.01) ,G01S 7/497 (2006.01) ,G01S 17/48 (2006.01) ,G01C 3/00 (2006.01) ,G01C 25/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
06
pour mesurer l'épaisseur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
04
en mesurant les coordonnées de points
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
245
en utilisant plusieurs transducteurs fixes fonctionnant simultanément
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
25
en projetant un motif, p.ex. des franges de moiré, sur l'objet
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
S
DÉTERMINATION DE LA DIRECTION PAR RADIO; RADIO-NAVIGATION; DÉTERMINATION DE LA DISTANCE OU DE LA VITESSE EN UTILISANT DES ONDES RADIO; LOCALISATION OU DÉTECTION DE LA PRÉSENCE EN UTILISANT LA RÉFLEXION OU LA RERADIATION D'ONDES RADIO; DISPOSITIONS ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES
7
Détails des systèmes correspondant aux groupes G01S13/, G01S15/, G01S17/135
48
de systèmes selon le groupe G01S17/56
497
Moyens de contrôle ou de calibrage
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
S
DÉTERMINATION DE LA DIRECTION PAR RADIO; RADIO-NAVIGATION; DÉTERMINATION DE LA DISTANCE OU DE LA VITESSE EN UTILISANT DES ONDES RADIO; LOCALISATION OU DÉTECTION DE LA PRÉSENCE EN UTILISANT LA RÉFLEXION OU LA RERADIATION D'ONDES RADIO; DISPOSITIONS ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES
17
Systèmes utilisant la réflexion ou reradiation d'ondes électromagnétiques autres que les ondes radio, p.ex. systèmes lidar
02
Systèmes utilisant la réflexion d'ondes électromagnétiques autres que des ondes radio
06
Systèmes déterminant les données relatives à la position d'une cible
46
Détermination indirecte des données relatives à la position
48
Systèmes de triangulation active, c. à d. utlisant la transmission et la réflexion d'ondes électromagnétiques autres que les ondes radio
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
3
Mesure des distances dans la ligne de visée; Télémètres optiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
25
Fabrication, étalonnage, nettoyage ou réparation des instruments ou des dispositifs mentionnés dans les autres groupes de la présente sous-classe
Déposants :
NOKRA OPTISCHE PRÜFTECHNIK UND AUTOMATION GMBH [DE/DE]; Max-Planck-Str. 12 52499 Baesweiler, DE
Inventeurs :
LAUVEN, Günter; DE
HELLMANN, Christian; DE
Mandataire :
HEINE, Christian; DE
Données relatives à la priorité :
10 2016 122 830.325.11.2016DE
Titre (EN) METHOD AND ARRANGEMENT FOR MEASURING DISTANCE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE DISTANCE
(DE) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR ABSTANDSMESSUNG
Abrégé :
(EN) A method for calibrating a sensor (1) for measuring a distance (9) between the sensor (1) and a surface (2) comprising at least the following method steps: a) providing a first calibration curve (12) as a function of the distance (9) between the sensor (1) and the surface (2) on the basis of at least one measurement signal at a prescribed first temperature associated with this first calibration curve (12); b) providing at least one second calibration curve (13) as a function of the distance (9) between the sensor (1) and the surface (2) on the basis of at least one measurement signal at a prescribed second temperature associated with this second calibration curve (13), which second temperature differs from the first temperature and any other second temperature; c) determining at least one third calibration curve (14) from the first (12) and second (13) calibration curves of the sensor (1) that are obtained in steps a) and b) for at least one third temperature, which is different from the first and any second temperature. The described methods and the described arrangement 10 can be used to measure a distance between a sensor 1 and a surface 2 independently of temperature. In this case, the thickness of a component 3 can also be measured. The sensor 1 does not need to be brought to a particular temperature and kept at said temperature by means of complex temperature control.
(FR) L'invention concerne un procédé pour étalonner un capteur (1) pour mesurer une distance (9) entre un capteur (1) et une surface (2) comprenant au moins les étapes consistant : a) à fournir une première courbe d'étalonnage (12) qui est une fonction de la distance (9) entre le capteur (1) et la surface par rapport à au moins un signal de mesure à une première température prédéfinie associée à cette première courbe d'étalonnage (12) ; b) à fournir au moins une deuxième courbe d'étalonnage (13) qui est une fonction de la distance (9) entre le capteur (1) et la surface (2) par rapport à au moins un signal de mesure à une deuxième température prédéfinie qui est associée à cette deuxième courbe d'étalonnage (13) et qui est différente de la première température et de tout autre deuxième température ; c) à déterminer au moins une troisième courbe d'étalonnage (14) à partir de la première (12) et de la deuxième (13) courbe d'étalonnage du capteur (1) obtenues lors des étapes a) et b) pour au moins une troisième température qui est différente de la première température et de tout autre deuxième température. Le procédé et le dispositif (10) selon l'invention permettent de mesurer une distance entre un capteur (1) et une surface en fonction de la température. Il est également possible de mesurer l'épaisseur d'une pièce (3). Le capteur (1) ne doit pas être porté à une température spécifique par l'intermédiaire d'une thermorégulation complexe et maintenu à cette température.
(DE) Verfahren zur Kalibrierung eines Sensors (1) zur Messung eines Abstandes (9) zwischen dem Sensor (1) und einer Oberfläche (2) umfassend zumindest die folgenden Verfahrensschritte: a) Bereitstellen einer ersten Kalibrierkurve (12) als eine Funktion des Abstands (9) zwischen dem Sensor (1) und der Oberfläche (2) in Abhängigkeit von zumindest einem Messsignal bei einer vorgegebenen und dieser ersten Kalibrierkurve (12) zugeordneten ersten Temperatur; b) Bereitstellen mindestens einer zweiten Kalibrierkurve (13) als eine Funktion des Abstands (9) zwischen dem Sensor (1) und der Oberfläche (2) in Abhängigkeit von zumindest einem Messsignal bei einer vorgegebenen und dieser zweiten Kalibrierkurve (13) zugeordneten zweiten Temperatur, die sich von der ersten Temperatur und jeder anderen zweiten Temperatur unterscheidet; c) Bestimmen mindestens einer dritten Kalibrierkurve (14) aus den in Schritt a) und b) erhaltenen ersten (12) und zweiten (13) Kalibrierkurven des Sensors (1) für mindestens eine dritte Temperatur, die von der ersten und jeder zweiten Temperatur verschieden ist. Mit den beschriebenen Verfahren und der beschriebenen Anordnung 10 kann ein Abstand zwischen einem Sensor 1 und einer Oberfläche 2 temperaturunabhängig gemessen werden. Dabei kann auch die Dicke eines Bauteils 3 gemessen werden. Der Sensor 1 muss nicht durch aufwendiges Temperieren auf eine bestimmte Temperatur gebracht und auf dieser gehalten werden.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)