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1. (WO2018090900) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR MESURER LE TEMPS D'ARRIVÉE DE PHOTONS À HAUTE ÉNERGIE
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N° de publication : WO/2018/090900 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/110864
Date de publication : 24.05.2018 Date de dépôt international : 14.11.2017
CIB :
G01T 1/00 (2006.01)
Déposants : ZHONGPAI S&T (SHENZHEN) CO., LTD[CN/CN]; Room 903, Changhong Science and Technology Mansion, No. 18, Keji South 12th Road Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518063, CN
Inventeurs : GONG, Zheng; CN
ZHAO, Zhixiang; CN
XU, Jianfeng; CN
WENG, Fenghua; CN
HUANG, Qiu; CN
Mandataire : RUIBANG & PARTNERS; Room 409, Tower B, Dongjiu Building, No. 4 Xizhaosi Street, Dongcheng District Beijing 100061, CN
Données relatives à la priorité :
201611004839.815.11.2016CN
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ARRIVAL TIME OF HIGH-ENERGY PHOTONS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR MESURER LE TEMPS D'ARRIVÉE DE PHOTONS À HAUTE ÉNERGIE
(ZH) 用于测量高能光子到达时间的方法及装置
Abrégé : front page image
(EN) A method and apparatus for measuring an arrival time of high-energy photons. The method comprises: acquiring an arrival time associated with visible photons which are detected by each sensor unit in a photosensor array (120) and which are generated by means of a reaction between high-energy photons and scintillation crystals, wherein the scintillation crystals is continuous crystals (110), and the photosensor array (120) comprises a plurality of sensor units coupled to the scintillation crystals (S210, S310, S410); acquiring an average waiting time corresponding to each of at least part of sensor units selected from among the photosensor array (120), respectively, at least on the basis of the arrival time associated with the visible photons detected by each sensor unit in the photosensor array (120) (S220); and, calculating a mean value on the average waiting time respectively corresponding to each of the at least part of the sensor units, so as to obtain an arrival time of the high-energy photons (S230, S350, S470). According to the method and apparatus, by calculating a mean value of the average waiting time acquired by a plurality of sensor units, a higher temporal resolution may be obtained.
(FR) L'invention concerne un procédé et un appareil pour mesurer un temps d'arrivée de photons à haute énergie. Le procédé consiste à : acquérir un temps d'arrivée associé à des photons visibles qui sont détectés par chaque unité de capteur dans un réseau de photocapteurs (120) et qui sont générés au moyen d'une réaction entre des photons à haute énergie et des cristaux de scintillation, les cristaux de scintillation étant des cristaux continus (110), et le réseau de photocapteurs (120) comprenant une pluralité d'unités de capteur couplées aux cristaux de scintillation (S210, S310, S410); acquérir un temps d'attente moyen correspondant à chaque unité d'au moins une partie des unités de capteur sélectionnées parmi le réseau de photocapteurs (120), respectivement, au moins sur la base du temps d'arrivée associé aux photons visibles détectés par chaque unité de capteur dans le réseau de photocapteurs (120) (S220); et calculer une valeur moyenne sur le temps d'attente moyen correspondant respectivement à chaque unité de l'au moins une partie des unités de capteur, de manière à obtenir un temps d'arrivée des photons à haute énergie (S230, S350, S470). Selon le procédé et l'appareil, en calculant une valeur moyenne du temps d'attente moyen acquis par une pluralité d'unités de capteur, une résolution temporelle plus élevée peut être obtenue.
(ZH) 一种用于测量高能光子到达时间的方法和装置。方法包括:获取与光电传感器阵列(120)中的每个传感器单元所检测到的、高能光子与闪烁晶体发生反应所产生的可见光子相关的到达时间,其中,闪烁晶体是连续晶体(110),光电传感器阵列(120)包括与闪烁晶体耦合的多个传感器单元(S210, S310, S410);至少基于与光电传感器阵列(120)中的每个传感器单元所检测到的可见光子相关的到达时间,获得与光电传感器阵列(120)中的选定的至少部分传感器单元中的每一个分别对应的待平均时间(S220);以及对与至少部分传感器单元中的每一个分别对应的待平均时间求平均,以获得高能光子的到达时间(S230, S350, S470)。根据方法和装置,通过对针对多个传感器单元获得的待平均时间求平均,可以获得较高的时间分辨率。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)