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1. (WO2018090634) PROCÉDÉ DE MESURE TOUS QUADRANTS D'UN CHAMP MAGNÉTIQUE MOYEN/IMPORTANT
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N° de publication :    WO/2018/090634    N° de la demande internationale :    PCT/CN2017/090545
Date de publication : 24.05.2018 Date de dépôt international : 28.06.2017
CIB :
G01R 33/09 (2006.01)
Déposants : TSINGHUA UNIVERSITY [CN/CN]; Tsinghua University, Haidian District Beijing 100084 (CN).
SICHUAN ENERGY INTERNET RESEARCH INSTITUTE, TSINGHUA UNIVERSITY [CN/CN]; No. 2039, South Section of Tianfu Road, Tianfu New Area Chengdu, Sichuan 610213 (CN)
Inventeurs : OUYANG, Yong; (CN).
HE, Jinliang; (CN).
HU, Jun; (CN).
WANG, Shanxiang; (CN).
ZHAO, Gen; (CN).
WANG, Zhongxu; (CN).
ZENG, Rong; (CN).
ZHUANG, Chijie; (CN).
ZHANG, Bo; (CN).
YU, Zhanqing; (CN)
Mandataire : CHENGDU JIUDINGTIANYUAN INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY LTD.; Yuan, Chunxiao Room 405, Human. Art Wisdom Plaza 33 Ximianqiao Street Chengdu, Sichuan 610041 (CN)
Données relatives à la priorité :
201611019183.7 18.11.2016 CN
Titre (EN) ALL-QUADRANT MEASUREMENT METHOD FOR MIDDLE-LARGE MAGNETIC FIELD
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE TOUS QUADRANTS D'UN CHAMP MAGNÉTIQUE MOYEN/IMPORTANT
(ZH) 一种中大磁场全象限测量方法
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is an all-quadrant measurement method for a middle-large magnetic field, relating to the technical field of magnetic field measurement. The method comprises: placing four orthogonally configured magnetic resistances in an external magnetic field; determining two magnetic resistances with the minimum resistance values, thereby determining that the other two magnetic resistances are in an S1 status, and making resistance values of the two magnetic resistances which are in the S1 status be R1 and R2, and at the same time taking an initial reference layer magnetization direction of the two magnetic resistances as a given reference layer magnetization direction when there is no magnetic field; respectively calculating, according to the resistance values of the two magnetic resistances, an included angle between a free layer magnetization direction and the reference layer magnetization direction of the two magnetic resistances; respectively calculating, according to the given reference layer magnetization direction and the included angle between the free layer magnetization direction and the reference layer magnetization direction of the two magnetic resistances, the free layer magnetization direction of the two magnetic resistances; and solving, according to the given reference layer magnetization direction and the free layer magnetization direction of the two magnetic resistances, a magnetic field amplitude and direction of the external magnetic field.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure tous quadrants d'un champ magnétique moyen/important, se rapportant au domaine technique de la mesure de champ magnétique. Le procédé consiste : à placer quatre résistances magnétiques configurées orthogonalement dans un champ magnétique externe ; à déterminer deux résistances magnétiques à l'aide des valeurs de résistance minimales, ce qui permet de déterminer que les deux autres résistances magnétiques sont dans un état S1, et de faire en sorte que des valeurs de résistance des deux résistances magnétiques qui sont dans l'état S1 soient R1 et R2, et en même temps de considérer une direction de magnétisation de couche de référence initiale des deux résistances magnétiques comme la direction de magnétisation de couche de référence donnée lorsqu'il n'y a pas de champ magnétique ; à calculer respectivement, en fonction des valeurs de résistance des deux résistances magnétiques, un angle inclus entre une direction de magnétisation de couche libre et la direction de magnétisation de couche de référence des deux résistances magnétiques ; à calculer respectivement, selon la direction de magnétisation de couche de référence donnée et de l'angle inclus entre la direction de magnétisation de couche libre et la direction de magnétisation de couche de référence des deux résistances magnétiques, la direction de magnétisation de couche libre des deux résistances magnétiques ; et à résoudre, selon la direction de magnétisation de couche de référence donnée et la direction de magnétisation de couche libre des deux résistances magnétiques, une amplitude de champ magnétique et une direction du champ magnétique externe.
(ZH)一种中大磁场全象限测量方法,涉及磁场测量技术领域。包括:将四个正交配置的磁阻电阻放置到外加磁场中;确定最小阻值的两个磁阻电阻,进而确定另外两个磁阻电阻处于S1状态,并令处于S1状态的两个磁阻电阻的阻值为R 1,R 2,同时将无磁场时这个两个磁阻电阻的初始参考层磁化方向作为给定的参考层磁化方向;根据这两个磁阻电阻的阻值分别计算这两个磁阻电阻的自由层磁化方向和参考层磁化方向的夹角;分别根据这两个磁阻电阻的给定参考层磁化方向及自由层磁化方向和参考层磁化方向的夹角计算出这两个磁阻电阻的自由层磁化方向;根据这两个磁阻电阻的给定参考层磁化方向、自由层磁化方向求解外加磁场的磁场幅值及方向。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)