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1. (WO2018090596) PROCÉDÉ ET CIRCUIT DE DÉTECTION D'ÉTAT DE FONCTIONNEMENT D'UNE PUCE DE SÉCURITÉ
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N° de publication : WO/2018/090596 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/086212
Date de publication : 24.05.2018 Date de dépôt international : 26.05.2017
CIB :
G06F 21/72 (2013.01) ,G06F 21/75 (2013.01)
Déposants : HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD.[CN/CN]; Huawei Administration Building Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129, CN
Inventeurs : WANG, Haofeng; CN
LU, Jiayin; CN
MA, Chongliang; CN
Mandataire : BEIJING ZBSD PATENT&TRADEMARK AGENT LTD.; 8F, Building 11 No. 31 Jiaoda East Road, Haidian District Beijing 100044, CN
Données relatives à la priorité :
201611021892.915.11.2016CN
Titre (EN) METHOD AND CIRCUIT FOR DETECTING OPERATING CONDITION OF SECURITY CHIP
(FR) PROCÉDÉ ET CIRCUIT DE DÉTECTION D'ÉTAT DE FONCTIONNEMENT D'UNE PUCE DE SÉCURITÉ
(ZH) 一种检测安全芯片工作状态的方法及检测电路
Abrégé : front page image
(EN) A method and a circuit for detecting an operating condition of a security chip related to the field of information security technologies. The method and the circuit are used to solve the issue of the prior art in which an analog circuit having a large area is easily identified in a security chip layout and thus has a higher risk of being attacked. The circuit comprises: a first register unit (101), a trigger unit (105), a delay unit (102), a routing unit (103), and a second register unit (104). The second register unit (104) is connected to the trigger unit (105). The method comprises: delaying a first signal in the delay unit (102), and acquiring a second signal; acquiring a third signal according to the second signal; and performing logic calculation on the first signal and the third signal to output a level signal to trigger an alarm unit (1052). The above units can all be implemented by digital circuits, thus reducing the size of a circuit such that the circuit is not easily identified in a security chip layout, enhancing reliability of the security chip.
(FR) L'invention concerne un procédé et un circuit pour détecter une condition de fonctionnement d'une puce de sécurité liée au domaine des technologies de sécurité d'informations. Le procédé et le circuit sont utilisés pour résoudre le problème de l'état de la technique selon lequel un circuit analogique ayant une grande surface est facilement identifié dans une disposition de puce de sécurité et présente ainsi un risque plus élevé d'être attaqué. Le circuit comprend : une première unité de registre (101), une unité de déclenchement (105), une unité de retard (102), une unité de routage (103) et une seconde unité de registre (104). La seconde unité de registre (104) est connectée à l'unité de déclenchement (105). Le procédé consiste : à retarder un premier signal dans l'unité de retard (102), et à acquérir un second signal ; à acquérir un troisième signal selon le second signal ; et à effectuer un calcul logique sur le premier signal et le troisième signal pour délivrer un signal de niveau pour déclencher une unité d'alarme (1052). Les unités ci-dessus peuvent toutes être mises en œuvre par des circuits numériques, réduisant ainsi la taille d'un circuit de telle sorte que le circuit ne soit pas facilement identifié dans une disposition de puce de sécurité, améliorant la fiabilité de la puce de sécurité.
(ZH) 一种检测安全芯片工作状态的方法及检测电路,涉及信息安全技术领域,用以解决现有技术中模拟电路的面积越大使得模拟电路容易在安全芯片版图中被识别出来,存在较高的被攻击风险的问题,包括:第一寄存单元(101),触发单元(105)、延迟单元(102)、选路单元(103)以及第二寄存单元(104),所述第二寄存单元(104)与所述触发单元(105)连接;通过将第一信号在延迟单元(102)中进行延迟,然后获取第二信号,然后根据第二信号获取第三信号,将第一信号和第三信号进行逻辑运算,输出电平信号以触发报警单元(1052),由于各个单元均可通过数字电路实现,因此可减小电路的尺寸,使得该电路不易在安全芯片的版图中被识别,提高安全芯片的可靠性。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)