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1. (WO2018089441) MICROSCOPE DE MICRODISSECTION PAR CAPTURE ET IMAGERIE SPECTRALE LASER
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N° de publication : WO/2018/089441 N° de la demande internationale : PCT/US2017/060561
Date de publication : 17.05.2018 Date de dépôt international : 08.11.2017
CIB :
B23K 26/03 (2006.01) ,B01J 19/00 (2006.01) ,B23K 26/02 (2014.01) ,B23K 26/06 (2014.01) ,B23K 26/08 (2014.01) ,G01N 1/06 (2006.01)
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23
MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
K
BRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
26
Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage, perçage
02
Mise en place ou surveillance des pièces, p.ex. par rapport au point d'impact; Alignement, pointage ou focalisation du faisceau laser
03
Surveillance des pièces
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
01
PROCÉDÉS OU APPAREILS PHYSIQUES OU CHIMIQUES EN GÉNÉRAL
J
PROCÉDÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES, p.ex. CATALYSE, CHIMIE DES COLLOÏDES; APPAREILLAGE APPROPRIÉ
19
Procédés chimiques, physiques ou physico-chimiques en général; Appareils appropriés
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23
MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
K
BRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
26
Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage, perçage
02
Mise en place ou surveillance des pièces, p.ex. par rapport au point d'impact; Alignement, pointage ou focalisation du faisceau laser
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23
MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
K
BRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
26
Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage, perçage
02
Mise en place ou surveillance des pièces, p.ex. par rapport au point d'impact; Alignement, pointage ou focalisation du faisceau laser
06
Détermination de la configuration du faisceau, p.ex. à l'aide de masques, ou de foyers multiples
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23
MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
K
BRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
26
Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage, perçage
08
Dispositifs comportant un mouvement relatif entre le faisceau laser et la pièce
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
02
Dispositifs pour prélever des échantillons
04
à l'état solide, p.ex. par coupe à l'outil
06
procurant une tranche mince, p.ex. "microtome"
Déposants :
DAYLIGHT SOLUTIONS, INC. [US/US]; 15378 Avenue of Science, Suite 200 San Diego, CA 92128, US
Inventeurs :
ROWLETTE, Jeremy; US
BIRD, Benjamin; US
MCCOLLUM, Nicholas; US
Mandataire :
ROEDER, Steven, G.; US
Données relatives à la priorité :
62/419,29408.11.2016US
Titre (EN) A LASER SPECTRAL IMAGING AND CAPTURE MICRODISSECTION MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE DE MICRODISSECTION PAR CAPTURE ET IMAGERIE SPECTRALE LASER
Abrégé :
(EN) An imaging and capture micro-dissection microscope (12) for spectrally analyzing a sample (10) and isolating a region of interest (210) in the sample (10) includes (i) a stage (26A) that retains the sample (10); (ii) an analysis laser assembly (14) that generates a coherent interrogation beam (16A) that is directed at the sample (10), the interrogation beam (16A) having a center wavelength that is in the infrared region; (iii) an image sensor (24A) that receives light from the sample (10), the image sensor (24A) capturing image information that is used to identify the region of interest (210) in the sample (10); (iv) a separation assembly (18) that separates the region of interest (210) from the sample (10) while the sample (10) is retained by the stage (26A); and (v) a capturing assembly (20) that captures the region of interest (210).
(FR) L'invention concerne un microscope de microdissection par imagerie et capture (12) destiné à analyser spectralement un échantillon (10) et à isoler une région d'intérêt (210) dans l'échantillon (10), et comprenant : (i) un étage (26A) qui retient l'échantillon (10) ; (ii) un ensemble laser d'analyse (14) qui génère un faisceau d'interrogation cohérent (16A) qui est dirigé sur l'échantillon (10), ce faisceau d'interrogation (16A) ayant une longueur d'onde centrale qui se situe dans la région infrarouge ; (iii) un capteur d'image (24A) qui reçoit de la lumière provenant de l'échantillon (10), ce capteur d'image (24A) capturant des informations d'image qui sont utilisées pour l'identification de la région d'intérêt (210) dans l'échantillon (10) ; (iv) un ensemble séparation (18) qui sépare la région d'intérêt (210) à partir de l'échantillon (10) pendant que l'échantillon (10) est retenu par l'étage (26A) ; et (v) un ensemble capture (20) qui capture la région d'intérêt (210).
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)