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1. (WO2018089137) SERDES EN MODE TENSION À AUTO-ÉTALONNAGE
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N° de publication : WO/2018/089137 N° de la demande internationale : PCT/US2017/055437
Date de publication : 17.05.2018 Date de dépôt international : 05.10.2017
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 21.06.2018
CIB :
H04L 25/02 (2006.01) ,H03K 19/0175 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
L
TRANSMISSION D'INFORMATION NUMÉRIQUE, p.ex. COMMUNICATION TÉLÉGRAPHIQUE
25
Systèmes à bande de base
02
Détails
H ÉLECTRICITÉ
03
CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
K
TECHNIQUE DE L'IMPULSION
19
Circuits logiques, c. à d. ayant au moins deux entrées agissant sur une sortie; Circuits d'inversion
0175
Dispositions pour le couplage; Dispositions pour l'interface
Déposants :
QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; ATTN: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121-1714, US
Inventeurs :
HAFIZI, Madjid; US
SHING, George; US
Mandataire :
HALLMAN, Jonathan W.; US
Données relatives à la priorité :
15/348,84110.11.2016US
Titre (EN) VOLTAGE-MODE SERDES WITH SELF-CALIBRATION
(FR) SERDES EN MODE TENSION À AUTO-ÉTALONNAGE
Abrégé :
(EN) A voltage-mode transmitter includes a calibration circuit having a replica circuit. By adjusting a feedback voltage driving a gate of a replica transistor in the replica circuit so that an impedance of the replica circuit matches an impedance of a variable resistor, the calibration circuit calibrates an output impedance of a single slice driver.
(FR) Un émetteur en mode tension comprend un circuit d'étalonnage ayant un circuit de réplique. Le fait d'ajuster une tension de rétroaction entraînant une grille d'un transistor de réplique dans le circuit de réplique de telle sorte qu'une impédance du circuit de réplique corresponde à une impédance d'une résistance variable, a pour effet que le circuit d'étalonnage calibre une impédance de sortie d'un pilote de tranche unique.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)