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1. (WO2018089022) AMÉLIORATION DE SIGNAUX OPTIQUES À L'AIDE DE POINTES DE SONDE OPTIMISÉES POUR DES CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES ET DE POTENTIEL CHIMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/089022 N° de la demande internationale : PCT/US2016/061708
Date de publication : 17.05.2018 Date de dépôt international : 11.11.2016
CIB :
G01Q 70/10 (2010.01) ,G01N 23/00 (2006.01) ,G01Q 60/18 (2010.01) ,G01Q 60/22 (2010.01) ,G01Q 70/08 (2010.01) ,G01Q 70/14 (2010.01)
Déposants : LEWIS, Aaron[US/IL]; IL
Inventeurs : LEWIS, Aaron; IL
FISH, Galina; IL
DEKHTER, Rina; IL
KOKOTOV, Sophia; IL
BAR-DAVID, Yossi; IL
Mandataire : BLAKE, William A; US
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ENHANCING OPTICAL SIGNALS WITH PROBE TIPS OPTIMIZED FOR CHEMICAL POTENTIAL AND OPTICAL CHARACTERISTICS
(FR) AMÉLIORATION DE SIGNAUX OPTIQUES À L'AIDE DE POINTES DE SONDE OPTIMISÉES POUR DES CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES ET DE POTENTIEL CHIMIQUE
Abrégé : front page image
(EN) Probes with novel material properties and geometric confined curved tip shapes have been developed as part of cantilevered probes for scanning apertureless near-field microscopy. They produce enhanced resolution for various modalities of combined operation with optical phenomena both linear phenomena such as Raman spectroscopy, absorption, fluorescence etc and non-linear microscopies. This novel probe operates as a sensitive AFM probe with combined capabilities for enhancement of the various modalities noted above. The probes are configured to be optimized for their combined optical properties and their material properties to permit both enhanced fields and quantum state formation with the close approach of the tip to the sample. The local enhancement increases the lateral (X, Y) and axial (Z) resolution of these optical processes without the need for an apertured probe for near-field-field effects thus providing apertureless near-field optical imaging of various modalities.
(FR) L'invention concerne des sondes présentant de nouvelles propriétés matérielles et des formes de pointe incurvées confinées géométriques, lesdites sondes ayant été développées dans le cadre de sondes en porte-à-faux destinées à une microscopie à champ proche sans ouverture de balayage. Elles produisent une résolution améliorée pour diverses modalités de fonctionnement combiné avec des phénomènes optiques, à la fois des phénomènes linéaires tels que la spectroscopie Raman, l'absorption, la fluorescence, etc. et des microscopies non linéaires. Cette nouvelle sonde fonctionne comme une sonde AFM sensible ayant des capacités combinées pour l'amélioration des diverses modalités notées ci-dessus. Les sondes sont conçues pour être optimisées en termes de propriétés optiques combinées et de propriétés matérielles pour permettre à la fois des champs améliorés et une formation d'état quantique avec l'approche de la pointe de l'échantillon de manière rapprochée. L'amélioration locale augmente la résolution latérale (X, Y) et axiale (Z) de ces processus optiques sans nécessiter de sonde à ouvertures pour des effets de champ proche, ce qui permet d'obtenir une imagerie optique à champ proche sans ouverture de diverses modalités.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)