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1. (WO2018088552) DISPOSITIF D'INSPECTION DES DÉFAUTS D'UN CORPS EN CÉRAMIQUE ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
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N° de publication : WO/2018/088552 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/040724
Date de publication : 17.05.2018 Date de dépôt international : 13.11.2017
CIB :
G01N 21/95 (2006.01) ,F01N 3/022 (2006.01) ,F01N 11/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
95
caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
F MÉCANIQUE; ÉCLAIRAGE; CHAUFFAGE; ARMEMENT; SAUTAGE
01
"MACHINES" OU MACHINES MOTRICES EN GÉNÉRAL; ENSEMBLES FONCTIONNELS DE MACHINES MOTRICES EN GÉNÉRAL; MACHINES À VAPEUR
N
SILENCIEUX OU DISPOSITIFS D'ÉCHAPPEMENT POUR "MACHINES" OU MACHINES MOTRICES EN GÉNÉRAL; SILENCIEUX OU DISPOSITIFS D'ÉCHAPPEMENT POUR MOTEURS À COMBUSTION INTERNE
3
Silencieux ou dispositifs d'échappement comportant des moyens pour purifier, rendre inoffensifs ou traiter les gaz d'échappement
02
pour refroidir ou pour enlever les constituants solides des gaz d'échappement
021
au moyen de filtres
022
caractérisés par une structure filtrante spécialement adaptée, p.ex. en nid d'abeilles, à mailles ou fibreuse
F MÉCANIQUE; ÉCLAIRAGE; CHAUFFAGE; ARMEMENT; SAUTAGE
01
"MACHINES" OU MACHINES MOTRICES EN GÉNÉRAL; ENSEMBLES FONCTIONNELS DE MACHINES MOTRICES EN GÉNÉRAL; MACHINES À VAPEUR
N
SILENCIEUX OU DISPOSITIFS D'ÉCHAPPEMENT POUR "MACHINES" OU MACHINES MOTRICES EN GÉNÉRAL; SILENCIEUX OU DISPOSITIFS D'ÉCHAPPEMENT POUR MOTEURS À COMBUSTION INTERNE
11
Dispositifs de surveillance ou de diagnostic pour les appareils de traitement des gaz d'échappement
Déposants :
日本碍子株式会社 NGK INSULATORS, LTD. [JP/JP]; 愛知県名古屋市瑞穂区須田町2番56号 2-56, Suda-cho, Mizuho-ku, Nagoya-shi, Aichi 4678530, JP
Inventeurs :
小瀬木 杏菜 KOSEKI Anna; JP
水谷 彰宏 MIZUTANI Akihiro; JP
寺拝 貴史 TERAHAI Takafumi; JP
Mandataire :
吉竹 英俊 YOSHITAKE Hidetoshi; JP
有田 貴弘 ARITA Takahiro; JP
Données relatives à la priorité :
2016-22156614.11.2016JP
Titre (EN) CERAMIC BODY DEFECT INSPECTING DEVICE AND DEFECT INSPECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DES DÉFAUTS D'UN CORPS EN CÉRAMIQUE ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
(JA) セラミックス体の欠陥検査装置および欠陥検査方法
Abrégé :
(EN) Around an image capturing unit which captures images of an inspection target region from a normal line direction thereof, a plurality of unit lights, which are at equiangular intervals from one another, and each of which radiates illuminating light obliquely, with the same radiation angle, toward the inspection target region from a different radiation direction, are successively turned on and off. Each time each of the plurality of unit lights is turned on, the image generating unit captures an image of the inspection target region, thereby generating a plurality of sets of image-capture data. A determination image generating unit generates minimum brightness image data in which the minimum value of the brightness at the same pixel position from among the plurality of sets of image-capture data is set as a brightness value at said pixel position, and generates determination image data on the basis of the minimum brightness image data. A defect determining unit determines the presence or absence of a defect on the basis of the determination image data.
(FR) Cette invention concerne une unité de capture d'images qui capture des images d'une région d'inspection cible dans un sens perpendiculaire, qui est entourée d'une pluralité de lumières individuelles, agencées à des intervalles équiangulaires les unes des autres, et émettent chacune un rayonnement de lumière d'éclairage oblique, au même angle de rayonnement, en direction de la région d'inspection cible selon un sens de rayonnement différent, qui sont successivement allumées et éteintes. Chaque fois que chacune de la pluralité de lumières individuelles est allumée, l'unité de génération d'images capture une image de la région d'inspection cible, pour générer ainsi une pluralité de jeux de données de capture d'images. Une unité de génération d'images de détermination génère des données d'images de luminosité minimale où la valeur minimale de la luminosité à la même position de pixel parmi la pluralité de jeux de données de capture d'images est définie comme valeur de luminosité à ladite position de pixel, et génère des données d'images de détermination en fonction desdites données d'images de luminosité minimale. Une unité de détermination de défauts détermine ensuite la présence ou l'absence d'un défaut en fonction desdites données d'images de détermination.
(JA) 検査対象領域をその法線方向から撮像する撮像部の周囲において、互いに等角度間隔な相異なる照射方向からそれぞれが検査対象領域に対して同じ照射角度で斜めに照明光を照射する複数の単位照明を順次に点灯および消灯し、撮像部は、複数の単位照明のそれぞれの点灯の都度、検査対象領域を撮像して複数の撮像データを生成し、判定用画像生成部は、複数の撮像データの同一画素位置での輝度値の最小値を当該画素位置における輝度値とする最小輝度画像データを生成したうえで、最小輝度画像データに基づいて判定用画像データを生成し、欠陥判定部は判定用画像データに基づいて欠陥の有無を判定する、ようにした。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)