Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018087978) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE TEMPÉRATURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/087978 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/029780
Date de publication : 17.05.2018 Date de dépôt international : 21.08.2017
CIB :
G01K 7/32 (2006.01) ,H03B 5/32 (2006.01) ,H03H 9/205 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
K
MESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
7
Mesure de la température basée sur l'utilisation d'éléments électriques ou magnétiques directement sensibles à la chaleur
32
utilisant la variation de la fréquence de résonance d'un cristal
H ÉLECTRICITÉ
03
CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
B
PRODUCTION D'OSCILLATIONS, DIRECTEMENT OU PAR CHANGEMENT DE FRÉQUENCE, À L'AIDE DE CIRCUITS UTILISANT DES ÉLÉMENTS ACTIFS QUI FONCTIONNENT D'UNE MANIÈRE NON COMMUTATIVE; PRODUCTION DE BRUIT PAR DE TELS CIRCUITS
5
Production d'oscillation au moyen d'un amplificateur comportant un circuit de réaction entre sa sortie et son entrée
30
l'élément déterminant la fréquence étant un résonateur électromécanique
32
un résonateur piézo-électrique
H ÉLECTRICITÉ
03
CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
H
RÉSEAUX D'IMPÉDANCES, p.ex. CIRCUITS RÉSONNANTS; RÉSONATEURS
9
Réseaux comprenant des éléments électromécaniques ou électro-acoustiques; Résonateurs électromécaniques
15
Détails de réalisation de résonateurs se composant de matériau piézo-électrique ou électrostrictif
205
ayant des résonateurs multiples
Déposants :
日本電波工業株式会社 NIHON DEMPA KOGYO CO., LTD. [JP/JP]; 東京都渋谷区笹塚1-47-1 1-47-1, Sasazuka, Shibuya-ku, Tokyo 1518569, JP
Inventeurs :
茎田 啓行 KUKITA, Hiroyuki; JP
若松 俊一 WAKAMATSU, Shunichi; JP
塩原 毅 SHIOBARA, Tsuyoshi; JP
石川 貴之 ISHIKAWA, Takayuki; JP
Mandataire :
特許業務法人弥生特許事務所 YAYOY PATENT OFFICE; JP
Données relatives à la priorité :
2016-22121914.11.2016JP
Titre (EN) TEMPERATURE DETECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE TEMPÉRATURE
(JA) 温度検出装置
Abrégé :
(EN) [Problem] To provide a temperature detection device with which there is no break in temperature detection when detecting the temperature on the basis of a change in the oscillation frequency of a crystal piece. [Solution] First and second oscillation regions 40, 50 are formed in a crystal piece (14), and the first or second oscillation region 40, 50 is caused to oscillate with a 3x wave or a fundamental wave by the switching of switch units SW1-SW3. Then, respective frequency rates of change F2, F1 for the 3x wave and the fundamental wave in the first oscillation region are found by a data processing unit 6, and from the difference of such rates of change, the temperature is detected. In addition, whether the oscillation of the first oscillation region 40 is abnormal or not is monitored on the basis of the results of measuring the frequency of the first oscillation region 40, and when the oscillation is determined to be abnormal, the second oscillation region 50 is used to detect the temperature from the same difference (F2'-F1').
(FR) Le problème décrit par la présente invention est de fournir un dispositif de détection de température ne présentant pas de rupture dans la détection de température lors d'une détection de température en fonction d'un changement de la fréquence d'oscillation d'une pièce de cristal. La solution de l'invention porte sur des première et seconde zones d'oscillation (40, 50) formées dans une pièce de cristal (14), la première ou la seconde zone d'oscillation (40, 50) étant amenées à osciller avec une onde 3x ou une onde fondamentale par la commutation d'unités de commutation SW1-SW3. Ensuite, des taux de fréquence respectifs de changement F2, F1 pour l'onde 3x et l'onde fondamentale dans la première zone d'oscillation sont trouvés par une unité de traitement de données (6), et à partir de la différence desdits taux de changement, la température est détectée. De plus, le caractère anormal ou non de l'oscillation de la première zone d'oscillation (40) est surveillé en fonction des résultats de la mesure de la fréquence de la première zone d'oscillation (40), et lorsqu'on détermine que l'oscillation est anormale, la seconde zone d'oscillation (50) est utilisée en vue de détecter la température à partir de la même différence (F2'-F1').
(JA) 【課題】水晶片の発振周波数の変化に基づいて温度を検出するにあたり、温度の検出が途切れることのない温度検出装置を提供すること。 【解決手段】水晶片14に第1及び第2の振動領域40、50を形成し、第1または第2の振動領域40、50をスイッチ部SW1~SW3の切替えにより3倍波または基本波で発振させる。そしてデータ処理部6により第1の振動領域の3倍波または基本波それぞれの周波数の変化率F2、F1を求めてその差分から温度を検出する。更に第1の振動領域40の周波数の計測結果に基づいて第1の振動領域40の発振が異常であるか否かを監視し、異常であると判断したときには、第2の振動領域50を用いて同様の差分(F2´-F1´)から温度を検出する。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)