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1. (WO2018087885) APPAREIL DE DÉTECTION DE DÉTÉRIORATION, SYSTÈME DE DÉTECTION DE DÉTÉRIORATION, PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉTÉRIORATION ET PROGRAMME
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N° de publication : WO/2018/087885 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/083529
Date de publication : 17.05.2018 Date de dépôt international : 11.11.2016
CIB :
G01R 31/12 (2006.01)
Déposants : MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION[JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310, JP
Inventeurs : HIGUMA Toshiyasu; JP
Mandataire : KIMURA Mitsuru; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DETERIORATION DETECTION APPARATUS, DETERIORATION DETECTION SYSTEM, DETERIORATION DETECTION METHOD, AND PROGRAM
(FR) APPAREIL DE DÉTECTION DE DÉTÉRIORATION, SYSTÈME DE DÉTECTION DE DÉTÉRIORATION, PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉTÉRIORATION ET PROGRAMME
(JA) 劣化検出装置、劣化検出システム、劣化検出方法、及び、プログラム
Abrégé : front page image
(EN) A waveform generation unit (107) generates a waveform of an electric current measured by a current sensor (10). A frequency analysis unit (108) calculates the feature quantity of a harmonic component in the waveform of the current generated by the waveform generation unit (107). A device model storage unit (105) stores a pre-deterioration device model in which are associated the type of an electric device and a feature quantity of a harmonic component in the waveform of the current flowing in a principal breaker when the device is operated while connected to a socket prior to deterioration, and a post-deterioration device model in which are associated the type of the electric device and a feature quantity of a harmonic component in the waveform of the current flowing in the principal breaker when the device is operated while connected to a socket after deterioration. A display unit (111) displays, on the basis of the feature quantity calculated by the frequency analysis unit (108), the feature quantity in the pre-deterioration device model, and the feature quantity in the post-deterioration device model, information that indicates an electric device connected to a socket after deterioration.
(FR) La présente invention concerne une unité de génération de forme d'onde (107) qui génère une forme d'onde d'un courant électrique mesuré par un capteur de courant (10). Une unité d'analyse de fréquence (108) calcule la quantité de caractéristique d'une composante harmonique dans la forme d'onde du courant généré par l'unité de génération de forme d'onde (107). Une unité de stockage de modèle de dispositif (105) stocke un modèle de dispositif de pré-détérioration dans lequel sont associés le type d'un dispositif électrique et une quantité caractéristique d'une composante harmonique dans la forme d'onde du courant circulant dans un disjoncteur principal lorsque le dispositif est actionné tout en étant connecté à une prise avant la détérioration, et un modèle de dispositif de post-détérioration dans lequel sont associés le type du dispositif électrique et une quantité caractéristique d'une composante harmonique dans la forme d'onde du courant circulant dans le disjoncteur principal lorsque le dispositif est actionné tout en étant connecté à une prise après la détérioration. Une unité d'affichage (111) affiche, sur la base de la quantité de caractéristiques calculée par l'unité d'analyse de fréquence (108), la quantité de caractéristiques dans le modèle de dispositif de pré-détérioration, et la quantité de caractéristiques dans le modèle de dispositif de post-détérioration, des informations qui indiquent un dispositif électrique connecté à une prise après la détérioration.
(JA) 波形生成部(107)は、電流センサ(10)により測定された電流の波形を生成する。周波数解析部(108)は、波形生成部(107)により生成された電流の波形における高調波成分の特徴量を算出する。機器モデル記憶部(105)は、電気機器の種別と劣化前のコンセントに接続されて動作したときに主幹ブレーカに流れる電流の波形における高調波成分の特徴量とを対応付けた劣化前機器モデルと、電気機器の種別と劣化後のコンセントに接続されて動作したときに主幹ブレーカに流れる電流の波形における高調波成分の特徴量とを対応付けた劣化後機器モデルと、を記憶する。表示部(111)は、周波数解析部(108)により算出された特徴量と、劣化前機器モデルにおける特徴量と、劣化後機器モデルにおける特徴量と、に基づいて、劣化後のコンセントに接続された電気機器を示す情報を表示する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)