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1. (WO2018086904) DISPOSITIF ET PROCEDE POUR DETERMINER UN REFLECTEUR EQUIVALENT A UN DEFAUT DETECTE PAR CONTROLE NON-DESTRUCTIF PAR ULTRASONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/086904 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/077474
Date de publication : 17.05.2018 Date de dépôt international : 26.10.2017
CIB :
G01N 29/04 (2006.01) ,G01N 29/06 (2006.01) ,G01N 29/07 (2006.01) ,G01N 29/11 (2006.01) ,G01N 29/44 (2006.01) ,G01S 7/52 (2006.01) ,G01S 15/02 (2006.01)
Déposants : COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES[FR/FR]; 25 rue Leblanc - Bâtiment "Le Ponant D" 75015 PARIS, FR
Inventeurs : CHATILLON, Sylvain; FR
BREDIF, Philippe; FR
BENOIST, Philippe; FR
Mandataire : LOPEZ, Frédérique; FR
ESSELIN, Sophie; FR
Données relatives à la priorité :
166087710.11.2016FR
Titre (EN) DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING A REFLECTOR EQUIVALENT TO A FLAW DETECTED BY ULTRASONIC NON-DESTRUCTIVE TESTING
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE POUR DETERMINER UN REFLECTEUR EQUIVALENT A UN DEFAUT DETECTE PAR CONTROLE NON-DESTRUCTIF PAR ULTRASONS
Abrégé : front page image
(EN) The present invention relates to a computer-implemented method for determining, in real time, without the use of AVG charts, the diameter of a reflector equivalent to a flaw detected in a material inspected during ultrasonic non-destructive testing.
(FR) La présente invention concerne un procédé mis en œuvre par ordinateur pour déterminer en temps réel, sans utilisation d'abaques AVG, le diamètre d'un réflecteur équivalent à un défaut détecté dans un matériau inspecté lors d'un contrôle non destructif par ultrasons.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)