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1. (WO2018086299) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTECTION DE DÉFAUT D'ISOLANT BASÉS SUR UN TRAITEMENT D'IMAGE
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N° de publication : WO/2018/086299 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/078686
Date de publication : 17.05.2018 Date de dépôt international : 30.03.2017
CIB :
G06T 7/13 (2017.01) ,G06T 7/136 (2017.01)
[IPC code unknown for G06T 7/13][IPC code unknown for G06T 7/136]
Déposants : QINGYUAN POWER SUPPLY BUREAU OF GUANGDONG POWER GRID CO., LTD.[CN/CN]; No. 38 Beijiang 1 Road Qingyuan, Guangdong 511510, CN
Inventeurs : SU, Chao; CN
HU, Jinlei; CN
WANG, Cong; CN
YIN, Zuchun; CN
ZHEN, Hongjun; CN
OUYANG, Ye; CN
Mandataire : ADVANCE CHINA IP LAW OFFICE; Room 3901, No. 85 Huacheng Avenue, Tianhe District, Guangzhou, Guangdong 510623, CN
Données relatives à la priorité :
201611040881.511.11.2016CN
Titre (EN) IMAGE PROCESSING-BASED INSULATOR DEFECT DETECTION METHOD AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTECTION DE DÉFAUT D'ISOLANT BASÉS SUR UN TRAITEMENT D'IMAGE
(ZH) 基于图像处理的绝缘子缺陷检测方法及系统
Abrégé :
(EN) The present invention relates to an image processing-based insulator defect detection method and system. An image including an insulator is transformed from an RGB color space into an HIS color space, and segmentation is performed to obtain single-channel images of a tone component and a saturation component. Intersection taking is performed to extract an insulator contour, and then morphological corrosion, dilation operation, regional growth, and connected region labeling are performed on an operator using an oval as a structural element in an insulator contour image. According to areas of all connected regions, a non-insulator image is removed from the image obtained after the regional growth operation to obtain a pseudo standard binary image. The image obtained after closing operation is compared with the pseudo standard binary image and an insulator defect is determined on the basis of the comparison result. The method is easy to achieve, operations are simple, and operation speed is high.
(FR) La présente invention concerne un procédé et un système de détection de défaut d'isolant basés sur un traitement d'image. Une image comprenant un isolant est transformée passant d'un espace colorimétrique RVB en un espace colorimétrique HIS, et une segmentation est effectuée pour obtenir des images à canal unique d'un composant de tonalité et d'un composant de saturation. Une prise d'intersection est effectuée pour extraire un contour isolant, puis une corrosion morphologique, une opération de dilatation, une croissance de régions, et un étiquetage de régions connectées sont effectués sur un opérateur à l'aide d'un ovale en tant qu'élément structurel dans une image de contour d'isolant. Selon des zones de toutes les régions connectées, une image de non-isolant est effacée de l'image obtenue après l'opération de croissance régionale pour obtenir une image binaire pseudo-standard. L'image obtenue après l'opération de fermeture est comparée à l'image binaire pseudo-standard et un défaut d'isolant est déterminé sur la base du résultat de comparaison. Le procédé est facile à réaliser, les opérations sont simples, et la vitesse de fonctionnement est élevée.
(ZH) 本发明涉及一种基于图像处理的绝缘子缺陷检测方法及其系统,将含有绝缘子的图像从RGB颜色空间转换到HSI颜色空间,分割得到色调分量和饱和度分量的单通道图像。再取交集来提取绝缘子轮廓,随后对所述绝缘子轮廓图像以椭圆形为结构元素的操作算子,进行形态学的腐蚀、膨胀运算、区域生长以及连通区域标记。根据各个连通区域的面积大小,从所述区域生长操作后获得的图像中剔除非绝缘子图像,获得伪标准二值图像。将进行闭运算后获得的图像与所述伪标准二值图像进行对比,根据对比结果判断绝缘子缺陷,容易实现,运算简单,速度较快。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)